[實用新型]一種新型X射線熒光光譜分析用坩堝及其支架和坩堝鉗有效
| 申請號: | 202021399007.2 | 申請日: | 2020-07-16 |
| 公開(公告)號: | CN212514342U | 公開(公告)日: | 2021-02-09 |
| 發明(設計)人: | 劉亞軒;趙紅坤;田有國;孟遠奪;顧雪;王瑾;郝亞波;白國棟 | 申請(專利權)人: | 津標(天津)計量檢測有限公司;全國農業技術推廣服務中心;中國地質科學院地球物理地球化學勘查研究所 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223;G01N23/2202;G01N1/44 |
| 代理公司: | 天津合正知識產權代理有限公司 12229 | 代理人: | 馬云云 |
| 地址: | 300000 天津市*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 射線 熒光 光譜分析 坩堝 及其 支架 | ||
1.一種新型X射線熒光光譜分析用坩堝,其特征在于:包括坩堝本體(1)、邊沿(2)、側壁散熱片(5)和底部散熱片(6);
所述坩堝本體(1)為倒圓臺狀,坩堝本體(1)的底部為水平面,且底部直徑為12mm,坩堝本體(1)的高為5mm;所述邊沿(2)設置在坩堝本體(1)上端開口處,邊沿(2)的寬度為6mm;所述坩堝本體(1)的厚度為0.6mm,坩堝本體(1)的外側壁上設有側壁散熱片(5),坩堝本體(1)的底部設有底部散熱片(6)。
2.根據權利要求1所述的新型X射線熒光光譜分析用坩堝,其特征在于:所述邊沿(2)的上表面沿坩堝本體(1)的徑向方向設有導流槽(3)。
3.根據權利要求1所述的新型X射線熒光光譜分析用坩堝,其特征在于:所述邊沿(2)的上表面和下表面對應設有卡塊(4),所述卡塊(4)為八棱柱狀。
4.根據權利要求1所述的新型X射線熒光光譜分析用坩堝,其特征在于:所述側壁散熱片(5)呈輻射狀設置在坩堝本體(1)的外側壁上。
5.根據權利要求1所述的新型X射線熒光光譜分析用坩堝,其特征在于:所述坩堝本體(1)的材質為95%鉑金和5%黃金。
6.一種適用于權利要求1-5任一項所述的坩堝的支架,其特征在于:包括下支撐圈(7)、上支撐圈(8)、連接桿(9)、支撐桿(11)、支撐板(12)、連接板(13)、底板(14)和延長片(16);
所述上支撐圈(8)位于下支撐圈(7)的上方,上支撐圈(8)的直徑大于熔樣機內的放置臺(19)的放置孔(20)的直徑,放置孔(20)的直徑大于下支撐圈(7)的直徑;所述下支撐圈(7)和上支撐圈(8)通過連接桿(9)連接;
所述上支撐圈(8)的內側通過支撐桿(11)連接有弧形的支撐板(12),坩堝本體(1)的邊沿(2)搭在支撐板(12)上;所述支撐板(12)的下表面通過連接板(13)連接有底板(14),坩堝本體(1)的底部放置在底板(14)上,所述底板(14)的上表面設有卡槽(15),坩堝本體(1)的底部散熱片(6)插在卡槽(15)內;所述上支撐圈(8)的外周設有便于夾持的延長片(16)。
7.根據權利要求6所述的支架,其特征在于:所述下支撐圈(7)的下方固定有米字架(10)。
8.根據權利要求6所述的支架,其特征在于:所述卡槽(15)的深度小于底部散熱片(6)的高度。
9.一種適用于權利要求3所述的坩堝的坩堝鉗,其特征在于:所述坩堝鉗的鉗柄(17)的前端固定有用于套設在卡塊(4)上的套筒(18),套筒(18)的內側壁為八棱柱狀。
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