[實用新型]一種基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺有效
| 申請號： | 202021302292.1 | 申請日： | 2020-07-06 |
| 公開（公告）號： | CN212482410U | 公開（公告）日： | 2021-02-05 |
| 發明（設計）人： | 戴一帆;彭小強;賴濤 | 申請（專利權）人： | 中國人民解放軍國防科技大學 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 長沙國科天河知識產權代理有限公司 43225 | 代理人： | 邱軼 |
| 地址： | 410073 湖*** | 國省代碼： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 玻璃 導軌 高精度 三維 輪廓 掃描 測量 平臺 | ||
1.一種基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，包括掃描傳感器、X軸導軌直線系統、Y軸導軌直線系統；
所述X軸導軌直線系統包括X軸導軌、X軸滑塊與X軸驅動，所述X軸滑塊在X軸驅動的作用下滑動連接在X軸滑塊上；
所述Y軸導軌直線系統包括Y軸導軌、Y軸滑塊與Y軸驅動，所述Y軸滑塊在Y軸驅動的作用下滑動連接在Y軸滑塊上；
所述掃描傳感器與待測工件中的一個設在X軸滑塊上，所述掃描傳感器與待測工件中的另一個設在Y軸滑塊上，所述掃描傳感器在X軸滑塊和/或Y軸滑塊滑動的過程中掃描待測工件的輪廓；
所述X軸導軌與Y軸導軌中的至少一個由光學材料加工制成。
2.根據權利要求1所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，還包括Z軸導軌直線系統；
所述掃描傳感器通過Z軸導軌直線系統連接在X軸滑塊或Y軸滑塊上，以便于調節掃描傳感器與待測工件之間的間距。
3.根據權利要求2所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，所述Z軸導軌直線系統包括Z軸導軌與Z軸滑塊；
所述Z軸滑塊滑動連接在Z軸導軌上，所述Z軸導軌固定設在X軸滑塊或Y軸滑塊上，所述掃描傳感器固定設在Z軸滑塊上；
所述Z軸導軌為機械導軌。
4.根據權利要求1或2或3所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，所述X軸驅動、Y軸驅動均通過皮帶電機傳動或絲桿電機傳動驅動X軸滑塊、Y軸滑塊滑動。
5.根據權利要求1或2或3所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，所述X軸導軌直線系統、Y軸導軌直線系統上均設有限位機構，以用于限制X軸滑塊、Y軸滑塊的行程，保證運行安全。
6.根據權利要求1或2或3所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，還包括基座以及垂直設在基座上的支撐梁；
所述X軸導軌設在基座上，所述Y軸導軌設在支撐梁的頂部。
7.根據權利要求6所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，所述X軸導軌直線系統還包括X軸導軌底座，所述Y軸導軌直線系統還包括Y軸導軌底座；
所述X軸導軌通過X軸導軌底座固定設在基座上，所述Y軸導軌通過Y軸導軌底座固定設在支撐梁的頂部。
8.根據權利要求7所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，所述X軸導軌底座、Y軸導軌底座上均設有光柵尺，以用于減小阿貝誤差。
9.根據權利要求7或8所述基于玻璃導軌的高精度三維輪廓掃描測量平臺，其特征在于，所述基座、支撐梁、X軸滑塊、X軸導軌底座、Y軸滑塊、Y軸導軌底座均采用大理石材料制成。
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