[實(shí)用新型]一種半導(dǎo)體的測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202021166959.X | 申請(qǐng)日: | 2020-06-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN213210349U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王麗雅;俞佩佩;周山 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 合肥晶合集成電路股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/26 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司: | 上海光華專(zhuān)利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 林凡燕 |
| 地址: | 230012 安徽省合肥*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 測(cè)試 裝置 | ||
本實(shí)用新型提出一種半導(dǎo)體的測(cè)試裝置,包括,基板;第一固定裝置,設(shè)置在所述基板上;第二固定裝置,設(shè)置在所述基板上,位于所述第一固定裝置的一側(cè),所述第一固定裝置通過(guò)所述基板內(nèi)的電路連接所述第二固定裝置;第三固定裝置,設(shè)置在所述基板上,位于所述第二固定裝置遠(yuǎn)離所述第一固定裝置的一側(cè)。本實(shí)用新型提出的半導(dǎo)體的測(cè)試裝置可以將待測(cè)元件牢牢固定,防止待測(cè)元件發(fā)生滑移導(dǎo)致測(cè)試不準(zhǔn)或無(wú)法測(cè)試。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種半導(dǎo)體的測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
隨著顯示技術(shù)的發(fā)展,窄邊框的顯示面板已經(jīng)成為發(fā)展趨勢(shì),在窄邊框的應(yīng)用中COF(Chip On Film,覆晶薄膜)技術(shù)起到非常重要的作用,該技術(shù)是運(yùn)用軟質(zhì)附加電路板作封裝芯片載體將芯片與軟質(zhì)基板電路接合的技術(shù)。
在整屏測(cè)試過(guò)程中,如果判斷覆晶薄膜上的集成電路出現(xiàn)問(wèn)題時(shí),需要將覆晶薄膜取下,然后固定在專(zhuān)用測(cè)試治具上進(jìn)行信號(hào)分析,確定可能的失效原因。現(xiàn)有的方案是通過(guò)膠帶粘合和外部夾壓的方式固定覆晶薄膜,這將導(dǎo)致覆晶薄膜上會(huì)殘留膠狀物,且測(cè)試穩(wěn)定性較差。
實(shí)用新型內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本實(shí)用新型提出一種半導(dǎo)體的測(cè)試裝置,以提高半導(dǎo)體的測(cè)試穩(wěn)定性,減少對(duì)半導(dǎo)體的損傷。
為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他目的,本發(fā)明提出一種半導(dǎo)體的測(cè)試裝置,包括:
基板;
第一固定裝置,設(shè)置在所述基板上;
第二固定裝置,設(shè)置在所述基板上,位于所述第一固定裝置的一側(cè),所述第一固定裝置通過(guò)所述基板內(nèi)的電路連接所述第二固定裝置;
第三固定裝置,設(shè)置在所述基板上,位于所述第二固定裝置遠(yuǎn)離所述第一固定裝置的一側(cè)。
進(jìn)一步地,所述基板上設(shè)置有第一開(kāi)孔,所述第一開(kāi)孔的四周設(shè)置有防靜電軟墊。
進(jìn)一步地,所述第一固定裝置包括:
第一卡槽;
多個(gè)第一夾具,設(shè)置于所述第一卡槽內(nèi);
標(biāo)尺,設(shè)置在所述第一卡槽上,所述標(biāo)尺上設(shè)置有刻度線(xiàn),所述刻度線(xiàn)與多個(gè)所述第一夾具位置相對(duì)應(yīng);
多個(gè)第一插針,其一端設(shè)置于所述第一卡槽內(nèi),另一端延伸出所述第一卡槽,且位于所述第一卡槽內(nèi)的一端與所述第一夾具連接。
進(jìn)一步地,所述第一固定裝置的兩端還設(shè)置有對(duì)位孔。
進(jìn)一步地,所述第二固定裝置包括:
第二卡槽,包括第一蓋板和第一底板,所述第一蓋板可轉(zhuǎn)動(dòng)地連接在所述第一底板上;
第一卡扣,設(shè)置在所述第一蓋板上;
第一凹部,設(shè)置在所述第一底板上,其中,所述第一卡扣與所述第一凹部位置對(duì)應(yīng);
多個(gè)第二夾具,設(shè)置于所述第二卡槽內(nèi);
多個(gè)第二插針,其一端設(shè)置于所述第二卡槽內(nèi),另一端延伸出所述第二卡槽,且位于所述第二卡槽內(nèi)的一端與所述第二夾具連接。
進(jìn)一步地,所述第二固定裝置上還設(shè)有對(duì)位針,所述對(duì)位針設(shè)置于所述第一底板的兩端。
進(jìn)一步地,所述第三固定裝置包括:
第二蓋板;
主架,其中,所述第二蓋板可轉(zhuǎn)動(dòng)地連接在所述主架上;
第二卡扣,設(shè)置在所述第二蓋板上;
第二凹部,設(shè)置在所述主架上,其中,所述第二卡扣與所述第二凹部位置對(duì)應(yīng);
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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