[實用新型]發光器件用測試壓緊機構

有效

• 申請號: 202021131036.0
• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN212710529U
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 徐鵬嵩;郭孝明;朱晶;王凱旋
• 申請（專利權）人: 蘇州聯訊儀器有限公司
• 主分類號: B65D19/44
• 分類號: B65D19/44
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 王健

1.一種發光器件用測試壓緊機構，其特征在于：包括下基板（1）、上蓋板（2）和若干個間隔排列的活動壓頭（3），所述上蓋板（2）覆蓋于下基板（1）的上表面上，并通過至少兩個螺栓與下基板（1）鎖緊；

所述下基板（1）上間隔開有若干個與活動壓頭（3）對應的通孔（4），此通孔（4）下端內壁上具有一徑向向內伸出的環形突出部（41），所述活動壓頭（3）中下部具有一徑向向外伸出的凸緣部（31），所述活動壓頭（3）可活動地嵌入下基板（1）上的通孔（4）內、且活動壓頭（3）上凸緣部（31）的下表面與通孔（4）內環形突出部（41）的上表面接觸，所述活動壓頭（3）的下端自下基板（1）的下表面伸出，用于與待測試器件擠壓接觸；

所述活動壓頭（3）外側套裝有一彈性件（5），此彈性件（5）位于上蓋板（2）與活動壓頭（3）上的凸緣部（31）之間；每個所述通孔（4）的兩側均設置有一安裝孔（6），所述上蓋板（2）上開有與安裝孔（6）對應的第二安裝孔（7），一螺絲依次穿入上蓋板（2）上的第二安裝孔（7）與安裝孔（6），將上蓋板（2）與下基板（1）鎖緊；

所述活動壓頭（3）中央開有上下貫通的第二通孔（8），所述上蓋板（2）上分別開有與第二通孔（8）對應連通的第三通孔（9），所述第三通孔（9）的下部直徑小于活動壓頭（3）上端面的外徑，所述第二通孔（8）、第三通孔（9）各自上部的內表面為向外傾斜的錐形面。

2.根據權利要求1所述的發光器件用測試壓緊機構，其特征在于：所述活動壓頭（3）和下基板（1）上通孔（4）的數目均為64個，分8排8列均勻排布。

3.根據權利要求1所述的發光器件用測試壓緊機構，其特征在于：所述彈性件（5）為彈簧。

4.根據權利要求1或3所述的發光器件用測試壓緊機構，其特征在于：所述彈性件（5）為波形彈簧。