[實用新型]一種電子信息工程用硬件檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202021107965.8
• 申請日: 2020-06-16
• 公開（公告）號: CN212586502U
• 公開（公告）日: 2021-02-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王開祿;常凱凱
• 申請（專利權(quán)）人: 王開祿
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;B08B5/04
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 胡昌國

本實用新型公開了一種電子信息工程用硬件檢測裝置，包括機殼、工作臺和支撐板，所述工作臺的底部安裝有雙軸電機，所述雙軸電機的一個輸出軸套接有齒輪，所述雙軸電機的另一個輸出軸通過聯(lián)軸器安裝有第二絲桿，所述第二絲桿的末端安裝有限位塊，所述第二絲桿上轉(zhuǎn)動套接有托板的，所述托板的頂部安裝有導向桿，所述導向桿上滑動套接有套筒，所述套筒固定在工作臺的底部，所述托板的頂部安裝有支撐桿，所述支撐桿的頂端安裝有托盤，所述工作臺開設(shè)有通孔。本實用新型便于芯片的檢測，防止手動拿取時對芯片本身造成損傷與靜電和人體油脂對芯片的影響，且多樣化檢測使芯片檢測的更全面，更徹底，準確度更高。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電子信息工程用硬件檢測裝置。

背景技術(shù)

計算機硬件，是由許多不同功能模塊化的部件組合而成的，并在軟件的配合下完成輸入、處理、儲存、和輸出等4個操作步。

在現(xiàn)有生活中，硬件的檢測過于繁瑣，檢測設(shè)備通常檢測的準確度不高，或因外界原因造成硬件本身的損壞和使用效果不佳，如檢測人員本身的靜電和皮表油脂和外界的細小灰塵，不利于硬件的檢測。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中檢測過程繁瑣、檢測物品拿放不便和細小灰塵對檢測造成影響的缺點，而提出的一種電子信息工程用硬件檢測裝置。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用了如下技術(shù)方案：

一種電子信息工程用硬件檢測裝置，包括機殼、工作臺和支撐板，所述工作臺的底部安裝有雙軸電機，所述雙軸電機的一個輸出軸套接有齒輪，所述雙軸電機的另一個輸出軸通過聯(lián)軸器安裝有第二絲桿，所述第二絲桿的末端安裝有限位塊，所述第二絲桿上轉(zhuǎn)動套接有托板的，所述托板的頂部安裝有導向桿，所述導向桿上滑動套接有套筒，所述套筒固定在工作臺的底部，所述托板的頂部安裝有支撐桿，所述支撐桿的頂端安裝有托盤，所述工作臺開設(shè)有通孔，所述托盤貫穿通孔，所述通孔的內(nèi)壁開設(shè)有滑槽，所述滑槽內(nèi)滑動連接有擋板，所述擋板的側(cè)面開設(shè)有齒槽，所述齒槽和齒輪嚙合連接。

優(yōu)選的，所述機殼的外壁安裝有電機，所述電機的輸出軸貫穿機殼并通過聯(lián)軸器安裝有第一絲桿的一端，所述第一絲桿的另一端轉(zhuǎn)動安裝在機殼的內(nèi)壁上，所述第一絲桿上通過螺紋轉(zhuǎn)動套接有固定塊，所述固定塊滑動套接有滑桿，所述滑桿安裝在機殼的內(nèi)壁上，所述固定塊的底部安裝有測試端。

優(yōu)選的，所述工作臺的頂部的兩端安裝有吸塵器，所述吸塵器的吸塵口貫穿機殼。

優(yōu)選的，所述工作臺的底部對稱安裝有L形的固定板，所述固定板上開設(shè)有滑槽，所述滑槽內(nèi)滑動安裝有滑塊，所述滑塊的頂部固定有抽屜，所述工作臺的底部安裝有保護殼，所述雙軸電機和套筒均位于保護殼內(nèi)。

優(yōu)選的，所述機殼的內(nèi)部的頂部安裝有蛇形管的一端，所述蛇形管的另一端安裝有燈罩，所述機殼的內(nèi)壁上安裝有插座。

優(yōu)選的，所述支撐板的內(nèi)側(cè)固定有支架，所述支架上安裝有柜子。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是：

1、通過雙軸電機的上端輸出軸上的齒輪和擋板側(cè)面齒槽的嚙合連接，使擋板打開工作臺上的通孔，雙軸電機的下端輸出軸轉(zhuǎn)動套接有托板，托板的頂部安裝有支撐桿和托盤，當雙軸電機的下端輸出軸轉(zhuǎn)動時便可帶動托盤進行升降，且打開雙軸電機時，拉動擋板和升降托盤可同時進行，在工作臺和托板之間安裝有套筒和導向桿，防止托盤和托板在升降期間晃動，自動拿放物品，便于芯片的檢測，防止手動拿取時對芯片本身造成損傷與靜電和人體油脂對芯片的影響。

2、電機的的輸出軸貫穿機殼并安裝有第一絲桿，第一絲桿上轉(zhuǎn)動套接有固定塊，固定塊滑動套接有滑桿，固定塊的底部安裝有測試端，電機的輸出軸轉(zhuǎn)動時，帶動固定塊的位置前后運動，固定塊帶動固定塊底部的測試端運動，達到了測試端前后運動的目的，方便芯片的檢測，且檢測人員可取下測試端進行手動檢測，多樣化檢測使芯片檢測的更全面，更徹底，準確度更高。