[實用新型]一種測量點位留痕裝置有效

申請號：	202021105499.X	申請日：	2020-06-16
公開（公告）號：	CN212133671U	公開（公告）日：	2020-12-11
發明（設計）人：	李文鵬;戰文;劉星星;呂國浩	申請（專利權）人：	呂國浩
主分類號：	G01C15/08	分類號：	G01C15/08
代理公司：	北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 11616	代理人：	陳月婷
地址：	276800 山東省***	國省代碼：	山東;37
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種測量點位留痕裝置
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【權利要求書】：

1.一種測量點位留痕裝置，包括空倉(14)，其特征在于：所述空倉(14)一側設有外接口(6)；所述空倉(14)下部設有對絲接口二(13)，所述對絲接口二(13)下部通過彈簧一(7)連接有壓板(12)，所述壓板(12)下部連接有對絲接口一(1)，所述對絲接口一(1)下部通過彈簧二(9)連接有尖頭(10)；

所述壓板(12)兩側設有噴口(8)。

2.根據權利要求1所述的一種測量點位留痕裝置，其特征在于：所述外接口(6)外部連接有罐裝自噴漆。

3.根據權利要求1所述的一種測量點位留痕裝置，其特征在于：所述壓板(12)與所述尖頭(10)設有圓柱桿，所述彈簧二(9)加裝在圓柱桿上。

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