[實用新型]一種半導體發光二極管檢測設備

有效

• 申請號: 202021104460.6
• 申請日: 2020-06-16
• 公開（公告）號: CN213364951U
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 蘇州奧肯思電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 上海宏京知識產權代理事務所(普通合伙) 31297
• 代理人: 王曉蕾

1.一種半導體發光二極管檢測設備，包括底座(1)，其特征在于，還包括：

整流器(2)，所述整流器(2)可拆卸設置于底座(1)的頂部；

機架(3)，所述機架(3)可拆卸設置于底座(1)的頂部，且整流器(2)處于機架(3)內側；

檢測機構(4)，所述檢測機構(4)可拆卸設置于機架(3)的頂部；

所述檢測機構(4)包括：

外殼(41)，所述外殼(41)可拆卸設置于機架(3)的頂部，且外殼(41)的內壁沿周向均開設有滑道(42)；

制動組件(43)，所述制動組件(43)可拆卸設置于外殼(41)的左側壁頂部；

螺桿(44)，所述螺桿(44)的兩端通過軸承分別轉動連接于外殼(41)的左右內壁中心位置，且螺桿(44)的端部延伸出外殼(41)的外壁；

摩擦片(45)，所述摩擦片(45)可拆卸設置于螺桿(44)的一端，且外壁呈圓形；

旋鈕(46)，所述旋鈕(46)可拆卸設置于螺桿(44)的另一端；

移動塊(47)，兩個所述移動塊(47)分別螺接于螺桿(44)的外壁中部左右兩側；

滑塊(48)，若干個所述滑塊(48)沿周向設置于移動塊(47)的外壁，且可左右移動的內嵌于滑道(42)的內腔；

接觸組件(49)，所述接觸組件(49)可拆卸設置于移動塊(47)的前側，且前側延伸出外殼(41)的內腔；

刻度尺(410)，所述刻度尺(410)粘接于外殼(41)的前側右下角。

2.根據權利要求1所述的一種半導體發光二極管檢測設備，其特征在于：所述螺桿(44)的外壁左右兩側螺紋為正反螺紋。

3.根據權利要求1所述的一種半導體發光二極管檢測設備，其特征在于：所述制動組件(43)包括：

支撐板(431)，所述支撐板(431)可拆卸設置于外殼(41)的左側頂部；

導桿(432)，兩個所述導桿(432)分別上下貫穿的內嵌于支撐板(431)的內腔頂部前后兩側；

第一彈簧(433)，所述第一彈簧(433)套接于導桿(432)的外壁；

拉柄(434)，所述拉柄(434)可拆卸設置于導桿(432)的頂端；

剎車片(435)，所述剎車片(435)可拆卸設置于導桿(432)的底端，且在第一彈簧(433)的作用下剎車片(435)與摩擦片(45)接觸對螺桿(44)制動。

4.根據權利要求3所述的一種半導體發光二極管檢測設備，其特征在于：所述剎車片(435)的底部呈弧形，且與摩擦片(45)相匹配。

5.根據權利要求1所述的一種半導體發光二極管檢測設備，其特征在于：所述接觸組件(49)包括：

絕緣筒(491)，所述絕緣筒(491)可拆卸設置于移動塊(47)的前側；

第二彈簧(492)、金屬觸點(493)，所述第二彈簧(492)和金屬觸點(493)從后至前內嵌于絕緣筒(491)的內腔，所述第二彈簧(492)的一端與絕緣筒(491)的內腔后端卡接，且另一端與金屬觸點(493)后端卡接，所述金屬觸點(493)與整流器(2)電性連接。

6.根據權利要求5所述的一種半導體發光二極管檢測設備，其特征在于：所述絕緣筒(491)的內徑從前至后逐漸變小。