[實(shí)用新型]一種藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202021104279.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN212482866U | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫成忠;阮軍;楊衛(wèi)橋;祁高進(jìn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇科慧半導(dǎo)體研究院有限公司;常州市武進(jìn)區(qū)半導(dǎo)體照明應(yīng)用技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01M11/02 | 分類號(hào): | G01M11/02 |
| 代理公司: | 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 姜曉鈺 |
| 地址: | 213164 江蘇省常州市武進(jìn)區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:
激光器,所述激光器內(nèi)設(shè)置有藍(lán)光芯片;
藍(lán)光可透反射器,所述藍(lán)光可透反射器設(shè)置在所述激光器的前端,透射400nm-450nm波段藍(lán)光至光電轉(zhuǎn)換模塊;
光電轉(zhuǎn)換模塊,所述光電轉(zhuǎn)換模塊將接收的藍(lán)光強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為電信號(hào);
控制器,所述控制器的輸入端連接所述光電轉(zhuǎn)換模塊;
開(kāi)關(guān)模塊,所述開(kāi)關(guān)模塊與所述激光器串聯(lián),同時(shí)所述開(kāi)關(guān)模塊連接所述控制器的輸出端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括激光器驅(qū)動(dòng)模塊,所述激光器驅(qū)動(dòng)模塊連接所述激光器,所述激光器驅(qū)動(dòng)電路與所述開(kāi)關(guān)模塊串聯(lián)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光電轉(zhuǎn)換模塊配置為光電池。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光電池的型號(hào)為OSD1.89-BC。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述開(kāi)關(guān)模塊配置為繼電器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng)還包括放大調(diào)制模塊,所述放大調(diào)制模塊與所述光電轉(zhuǎn)換模塊串聯(lián)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述藍(lán)光檢測(cè)系統(tǒng)還包括AD采集模塊,所述AD采集模塊與所述光電轉(zhuǎn)換模塊串聯(lián)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇科慧半導(dǎo)體研究院有限公司;常州市武進(jìn)區(qū)半導(dǎo)體照明應(yīng)用技術(shù)研究院,未經(jīng)江蘇科慧半導(dǎo)體研究院有限公司;常州市武進(jìn)區(qū)半導(dǎo)體照明應(yīng)用技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202021104279.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01M 機(jī)器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動(dòng)平衡的測(cè)試;其他類目中不包括的結(jié)構(gòu)部件或設(shè)備的測(cè)試
G01M11-00 光學(xué)設(shè)備的測(cè)試;其他類目未包括的用光學(xué)方法測(cè)試結(jié)構(gòu)部件
G01M11-02 .光學(xué)性質(zhì)的測(cè)試
G01M11-08 .機(jī)械性能的測(cè)試
G01M11-04 ..光學(xué)實(shí)驗(yàn)臺(tái)
G01M11-06 ..車(chē)輛前燈裝置的對(duì)光測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





