[實(shí)用新型]一種基于小角散射研究煤樣納米孔隙結(jié)構(gòu)的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202021036789.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN212159492U | 公開(公告)日: | 2020-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉通;趙毅鑫;權(quán)偉隆;胡勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國礦業(yè)大學(xué)(北京) |
| 主分類號(hào): | G01N15/08 | 分類號(hào): | G01N15/08 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 小角 散射 研究 納米 孔隙 結(jié)構(gòu) 裝置 | ||
本實(shí)用新型的目的在于提出一種基于小角散射研究煤樣納米孔隙結(jié)構(gòu)的裝置,支架固定安裝在底座正中心位置,柱型腔與支架通過轉(zhuǎn)軸連接,轉(zhuǎn)軸固定安裝于柱型腔正中心位置,Kapton膜緊密貼合在柱型腔前后兩側(cè),控制中心與數(shù)控箱連接,數(shù)控箱與轉(zhuǎn)軸連接并固定安裝于支架一端外側(cè),將樣品放置于微型樣品臺(tái)中,X射線照射樣品,獲得一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),接著控制中心發(fā)出指令至數(shù)控箱,通過轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動(dòng)控制樣品倉進(jìn)行順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)60度,X射線再次照射樣品,獲得一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),最終可獲得一組共六個(gè)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),即首先在樣品倉內(nèi)放置好樣品,X射線照射樣品獲得一個(gè)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),數(shù)控系統(tǒng)控制樣品倉的轉(zhuǎn)動(dòng),X射線穿過不同樣品從而獲得不同煤樣的納米孔隙結(jié)構(gòu)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及多孔介質(zhì)納米孔隙結(jié)構(gòu)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于小角散射研究煤樣納米孔隙結(jié)構(gòu)的裝置。
背景技術(shù)
我國擁有豐富的煤炭資源,煤層中蘊(yùn)含有豐富的煤層氣,開發(fā)利用煤層氣資源對(duì)我國的能源安全問題具有重要意義。煤層氣俗稱瓦斯,主要以游離瓦斯和吸附瓦斯(80%~90%)兩種形式賦存于煤層中。煤是一種具有復(fù)雜微觀結(jié)構(gòu)特征的多孔介質(zhì),具有雙重孔隙系統(tǒng)(孔隙-裂隙),具有較大的內(nèi)表面積(可達(dá)10~40m2/g),煤中內(nèi)部孔隙的存在關(guān)系到煤吸附、解吸氣體的物理性能。煤層甲烷受分子力的作用可被吸附于煤巖孔隙表面,因而煤層具有很強(qiáng)的吸附能力,可以吸附大量的煤層氣。煤中不同大小的孔徑分布特征、孔形狀及其連通性等,直接決定了煤中瓦斯(煤層氣)的含量及其在煤層中的流動(dòng)性,進(jìn)而影響煤層中的瓦斯抽采?,F(xiàn)有研究表明:煤中微孔發(fā)育程度決定了煤的吸附能力,且吸附最有效的吸附孔隙是納米(100nm以下)。因此煤的納米孔隙結(jié)構(gòu)直接影響煤對(duì)CH4、CO2等氣體的吸附特性,進(jìn)而影響煤層氣含量和瓦斯抽采。因此研究煤的納米孔隙結(jié)構(gòu)特征對(duì)于煤層氣開采、瓦斯抽采及CO2封存等具有重要指導(dǎo)意義。
目前用于表征微觀孔隙結(jié)構(gòu)的方法主要有兩大類,分別是流體侵入法和光電射線觀測(cè)法,而同步輻射小角X射線散射作為光電射線觀測(cè)法的一種,是研究煤微觀孔隙結(jié)構(gòu)的一種無損檢測(cè)手段,能夠完成對(duì)煤中“開孔”和“閉孔”孔隙特征、孔徑分布特征以及比表面積的無損觀測(cè),其研究煤的微觀孔隙結(jié)構(gòu)尺度大小為1~100nm。
目前,北京同步輻射小角X射線實(shí)驗(yàn)站在靜態(tài)測(cè)量樣品納米孔隙結(jié)構(gòu)時(shí),所采用的樣品倉為單個(gè)片狀,一次只能測(cè)得一個(gè)樣品。小角X射線實(shí)驗(yàn)站機(jī)時(shí)十分寶貴,一般實(shí)驗(yàn)用戶需大量測(cè)樣,而測(cè)樣時(shí)需要來回更換樣品,嚴(yán)重浪費(fèi)機(jī)時(shí)?;谏鲜霈F(xiàn)狀,因此迫切需要研發(fā)一種能夠一次測(cè)得多組實(shí)驗(yàn)樣品的裝置來研究固態(tài)多孔介質(zhì)納米孔隙結(jié)構(gòu)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提出一種基于小角散射研究煤樣納米孔隙結(jié)構(gòu)的裝置,并可一次測(cè)得多組實(shí)驗(yàn)樣品。
其中,載物臺(tái)包括支架、底座,支架固定安裝在底座正中心位置,樣品倉包括柱型腔、Kapton膜,柱型腔與支架通過轉(zhuǎn)軸連接,轉(zhuǎn)軸固定安裝于柱型腔正中心位置,Kapton膜緊密貼合在柱型腔前后兩側(cè),數(shù)控系統(tǒng)包括數(shù)控箱、控制中心,控制中心與數(shù)控箱連接,數(shù)控箱與轉(zhuǎn)軸連接并固定安裝于支架一端外側(cè),首先將六個(gè)樣品均放置于六個(gè)微型樣品臺(tái)中,X射線穿過前側(cè)Kapton膜照射至微型樣品臺(tái)中最上方樣品再穿過后側(cè)Kapton膜,投射到后端探測(cè)器上,從而獲得一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),接著控制中心發(fā)出指令至數(shù)控箱,通過轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動(dòng)控制樣品倉進(jìn)行順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)60度,X射線再次穿過前側(cè)Kapton膜照射至微型樣品臺(tái)中最上方樣品再穿過后側(cè)Kapton膜,投射到后端探測(cè)器上,再次獲得一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),重復(fù)上述步驟,最終可獲得一組共六個(gè)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
一種基于小角散射研究煤樣納米孔隙結(jié)構(gòu)的裝置,包括:
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