[實用新型]一種浮動探針機構有效
| 申請號: | 202021019165.0 | 申請日: | 2020-06-05 |
| 公開(公告)號: | CN212622725U | 公開(公告)日: | 2021-02-26 |
| 發明(設計)人: | 周李淵 | 申請(專利權)人: | 長園半導體設備(珠海)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 馬學慧 |
| 地址: | 519080 廣東省珠海*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 浮動 探針 機構 | ||
本實用新型公開了一種浮動探針機構,包括探針組件,探針組件包括電路板及若干安裝于電路板的探針,浮動探針機構還包括底座及浮動結構,浮動結構包括探針板組件、防松螺絲以及彈性組件,探針板組件通過防松螺絲活動安裝于底座,彈性組件兩端分別與底座及探針板組件抵觸,電路板位于底座及探針板組件之間,探針收容于探針板組件,本實用新型浮動探針機構使用時,浮動探針機構固定于治具上,治具帶動浮動探針機構向上移動,探針板組件先與待測試產品接觸并被待測試產品抵壓靠近底座,此時探針從探針板組件中伸出,直至待測試產品與探針連接,在此過程中彈性件緩沖待測產品的沖擊力。通過上述設計,探針檢測時受到的沖擊力小,使用壽命長。
技術領域
本實用新型涉及測試探針,尤其是涉及一種浮動探針機構。
背景技術
隨著現代社會的快速發展,各式各樣的電子產品進入到人們的生活中,人們對電子產品的質量要求也越來越高,從而在電子產品的生產過程中,每道工序都需要對半成品產品進行檢測,目前通常采用測試設備與產品電連接進行測試,測試設備的連接件為金屬探針。
每一次測試對接時,金屬探針都會受到沖擊,導致金屬探針壽命縮短,經常需要更換。
實用新型內容
為了克服現有技術的不足,本實用新型的目的之一在于提供一種對接時沖擊小、使用壽命長的浮動探針機構。
本實用新型的目的之一采用以下技術方案實現:
一種浮動探針機構,包括探針組件,所述探針組件包括電路板及若干安裝于所述電路板的探針,所述浮動探針機構還包括底座及浮動結構,所述浮動結構包括探針板組件、防松螺絲以及彈性組件,所述探針板組件通過所述防松螺絲活動安裝于所述底座,所述彈性組件兩端分別與所述底座及所述探針板組件抵觸,所述電路板位于所述底座及所述探針板組件之間,所述探針收容于所述探針板組件。
進一步地,所述探針板組件設有導向孔,所述底座設有固定孔,所述防松螺絲伸入所述導向孔并與所述固定孔固定。
進一步地,所述探針板組件設有第二收容孔,所述底座設有第一收容孔,所述彈性組件收容于所述第一收容孔及所述第二收容孔之間。
進一步地,所述彈性組件包括彈性件及導向柱,所述彈性件套設于所述導向柱。
進一步地,所述彈性件為彈簧。
進一步地,所述探針板組件包括上探針板、中探針板以及下探針板,所述上探針板設有探針槽,所述中探針板設有第一探針孔,所述下探針板設有第二探針孔,所述探針槽、所述第一探針孔以及所述第二探針孔連通。
進一步地,所述第一探針孔以及所述第二探針孔位于同一直線上。
進一步地,每一所述探針安裝于所述第二探針孔、所述第一探針孔以及所述探針槽,并能夠在所述第二探針孔、所述第一探針孔以及所述探針槽中活動。
進一步地,所述下探針板設有凹槽,所述電路板位于所述凹槽中并與所述下探針板固定。
進一步地,所述底座設有主體及安裝部,所述安裝部從所述主體延伸而出,所述安裝部設有安裝孔,所述底座通過所述安裝孔與治具固定連接。
相比現有技術,本實用新型浮動探針機構使用時,浮動探針機構固定于治具上,治具帶動浮動探針機構向上移動,探針板組件先與待測試產品接觸并被待測試產品抵壓靠近底座,此時探針從探針板組件中伸出,直至待測試產品與探針連接,在此過程中彈性件緩沖待測產品的沖擊力。通過上述設計,探針檢測時受到的沖擊力小,使用壽命長。
附圖說明
圖1為本實用新型浮動探針機構的立體圖;
圖2為圖1的浮動探針機構的分解圖;
圖3為圖2的浮動探針機構的底座的立體圖;
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