[實用新型]一種防止誤操作的雙浮動微針測試夾具

有效

• 申請號: 202021005489.9
• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN212965027U
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發明（設計）人: 黃慶云
• 申請（專利權）人: 深圳市振云精密測試設備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 深圳市龍成聯合專利代理有限公司 44344
• 代理人: 陳麗燕

本實用新型屬于測試治具領域，涉及一種防止誤操作的雙浮動微針測試夾具，包括：由第一基座及翻蓋組成的翻蓋模組，所述翻蓋的第一端活動安裝在所述第一基座上且可繞第一基座轉動使得微針模組能夠與待測物連接；微針模組，包括：第二基座、第一浮動針塊、第二浮動針塊、測試探針及探針基板，所述第二基座的第一端面通過第一彈性件與所述翻蓋模組連接，所述第一浮動針塊及所述第二浮動針塊均通過第二彈性件安裝在所述第二基座的第二端面上，所述第二浮動針塊位于所述第一浮動針塊內；載板，用于安裝待測物，與所述翻蓋模組固定。其優點在于，不僅能夠對待測物進行精準定位，降低由于定位不準而造成的重測率，還能夠防止誤操作導致測試探針被壓斷。

技術領域

本實用新型屬于測試治具領域，涉及一種防止誤操作的雙浮動微針測試夾具。

背景技術

現有治具的測試設備采用的常規的Pogo Block進行測試，將待測PCB板放置后，直接將翻蓋結構進行壓合在待測PCB板上，然后連接測試探針進行測試，但是這樣進行測試時，在放置待測PCB板及PCB板測試完后拿取均不夠方便，另外現有的治具測試設備采用單層浮動的方式進行定位，僅僅浮動針塊對待測物的定位容易造成因定位不準引起測試失敗，從而導致重測率很高，在測試過程中誤操作時，測試探針與待測物的連接端未一一對應，現有技術中的微針模組由于未設置自我保護的措施，從而將翻蓋模組壓合時測試探針就容易被壓斷造成斷針的現象。

實用新型內容

本實用新型的目的在于針對現有技術的不足，提供一種防止誤操作的雙浮動微針測試夾具，不僅能夠對待測物進行精準定位，降低由于定位不準而造成的重測率，還能夠防止誤操作而導致測試探針被壓斷。

為了實現上述目的，本實用新型采用了以下技術方案：

一種防止誤操作的雙浮動微針測試夾具，包括：

翻蓋模組，包括：第一基座及翻蓋，所述翻蓋的第一端活動安裝在所述第一基座上且可繞第一基座轉動；

安裝在所述翻蓋模組上的微針模組，包括：第二基座、第一浮動針塊、第二浮動針塊、測試探針及用于安裝所述測試探針的探針基板，所述第二基座的第一端面通過第一彈性件與所述翻蓋模組連接，所述第一浮動針塊通過第二彈性件安裝在所述第二基座的第二端面上，所述第二浮動針塊均通過第三彈性件安裝在所述第二基座的第二端面上，所述第二浮動針塊位于所述第一浮動針塊內，在自然狀態下，第二浮動針塊與第一浮動針塊具有高度差，且第一浮動針塊位于低位，所述第二基座上還形成有用于安裝所述探針基板上的第一凹槽，所述第二浮動針塊上還設置有通孔，且所述通孔的位置與所述測試探針的位置相對應使得所述測試探針能夠穿過所述通孔與所述待測物連接，且所述第一端面與所述第二端面相對；

載板，與所述第一基座固定，且形成有第二凹槽用于安裝固定所述待測物。

進一步的，所述第二基座上還安裝有第一限位塊，且所述第一限位塊與所述第一浮動針塊的邊緣抵接用于限制所述第一浮動針塊朝向所述載板運動；

進一步的，所述第二基座上還安裝有第二限位塊，且第二限位塊與所述第二浮動針塊的側壁抵接用于限制所述第二浮動針塊朝向所述載板運動。

進一步的，所述第二基座的第二端面上還設置有定位導銷，所述載板上還相應設置有定位孔。

進一步的，所述第二浮動針塊與所述待測物相接觸的端面上還設置有定位凸臺。

進一步的，所述第一浮動針塊上與所述待測物相接觸面的邊緣呈光滑弧形。

進一步的，所述翻蓋的第二端安裝有卡勾，所述載板上還相應設置有卡板，所述卡勾與所述卡板相配合使得所述翻蓋模組能夠與所述載板卡緊，且所述第一端與所述第二端相對。

進一步的，所述第二凹槽邊緣還設置有導向柱。