[實用新型]一種分層測試探針模具及分層測試設備

有效

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• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN212965026U
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發(fā)明（設計）人: 黃慶云
• 申請（專利權）人: 深圳市振云精密測試設備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/00
• 代理公司: 深圳市龍成聯合專利代理有限公司 44344
• 代理人: 陳麗燕

本實用新型提供一種分層測試探針模具及分層測試設備，所述分層測試探針模具包括了測試底座、上蓋部、第一測試模塊和第二測試模塊，包括底座、上蓋部、第一測試模塊和第二測試模塊，上蓋部包括翻蓋針板和預壓塊，底座頂部設有第一放置槽和第二放置槽，所述第一測試模塊設置在所述翻蓋針板上且與所述第一放置槽位置相對應，第二測試模塊設置于第二放置槽上且與預壓塊位置相對應。第一測試模塊與第二測試模塊分別設置在上蓋板與測試底板上，使第一測試模塊與第二測試模塊集成在一個模具上且互不干擾，實現了同時對產品兩個相關聯的功能進行測試，測試操作簡單，提高了測試效率。

技術領域

本實用新型屬于測試技術領域，涉及一種分層測試探針模具及分層測試設備。

背景技術

由于電子產品的迅速發(fā)展，電子產品逐漸向微小型化發(fā)展，對于電子類產品和配件在組裝完成后，需要對產品的多個功能進行測試。

目前現有的測試模具的產品測試部分是相互遮蓋的，當對產品相關聯的部分功能進行測試時，需要分開測試，極大影響測試效率。

因此，現有技術存在測試模具無法同時對連接器類產品進行關聯性的功能測試。

發(fā)明內容

本實用新型的目的在于針對現有技術的不足，提供一種分層測試探針模具及分層測試設備，實現對產品的關聯性功能進行同時測試，不需要分開測試，提高檢測效率。

為了實現上述目的，本實用新型采用了以下技術方案：

一種分層測試探針模具，包括測試底座、上蓋部、第一測試模塊和第二測試模塊，所述上蓋部通過所述測試底座上的轉軸與所述測試底座相對轉動連接；所述上蓋部包括翻蓋針板和預壓塊，所述測試底座頂部設有第一放置槽和第二放置槽，所述第一測試模塊設置在所述翻蓋針板上且與所述第一放置槽位置相對應，所述第二測試模塊設置于所述第二放置槽上且與所述預壓塊位置相對應。

作為一種優(yōu)選方案，所述測試底座從下往上依次設有穿針板和浮動板，所述穿線板與所述浮動板相疊形成臺階分層，所述第一放置槽與所述第二放置槽分別錯位設置于所述穿針板層和所述浮動板層的臺階平面上。

進一步的，所述穿針板與所述浮動板的連接處設有彈簧。

作為一種優(yōu)選方案，所述穿針板設有導向銷，所述導向銷位于所述第一放置槽周圍。

作為一種優(yōu)選方案，所述翻蓋針板與所述預壓塊分別與所述轉軸連接且繞所述轉軸彼此相對轉動，所述預壓塊連接在所述轉軸中部并位于所述翻蓋針板的中間開口處。

作為一種優(yōu)選方案，所述第一測試模塊包括探針和PCB轉接板，所述探針設置在翻蓋針板上且與第一放置槽位置相對應，所述探針一端伸出所述翻蓋針板底部，另一端穿過所述翻蓋針板與位于所述翻蓋針板頂部的PCB轉接板連接。

作為一種優(yōu)選方案，所述第二測試模塊包括測試線針和測試轉接排線，所述測試線針一端貫穿所述測試底座位于所述第二放置槽內，另一端與所述測試轉接排線連接。

進一步的，所述測試底座的底部連接有等高限位柱，所述等高限位柱一端與所述測試底座連接，另一端與過針板頂部連接，所述過針板底部接有所述測試轉接排線。

作為一種優(yōu)選方案，所述測試底座與所述上蓋部分別設有位置相對應的吸附磁鐵。

一種分層測試設備，包括箱體、控制面板、控制電路組、氣原處理組，還包括上述任一方案所述的分層測試探針模具。