[實用新型]一種工程地質勘測水準儀

有效

• 申請號: 202021001846.4
• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN212298263U
• 公開（公告）日: 2021-01-05
• 發明（設計）人: 紀銀濤;張俊杰;劉磊;張洋
• 申請（專利權）人: 紀銀濤
• 主分類號: F16M11/04
• 分類號: F16M11/04;F16M11/24;F16M7/00;G01C5/00
• 代理公司: 黑龍江立超同創知識產權代理有限責任公司 23217
• 代理人: 王大為

1.一種工程地質勘測水準儀，包括水準儀主體(1)和刻度盤(4)，其特征在于：所述水準儀主體(1)安裝在刻度盤(4)上端外壁上，所述水準儀主體(1)前端外壁上設置有物鏡(2)，所述刻度盤(4)下端外壁上設置有水平調節腳螺絲套(5)，所述水平調節腳螺絲套(5)下端外壁上設置有基座(3)，所述基座(3)下端外壁上設置有支架(6)，所述支架(6)靠下側后端外壁上設置有滾輪(8)，所述滾輪(8)上側的支架(6)上設置有旋鈕(7)，所述支架(6)靠前側下端外壁內部設置有出口(17)，所述出口(17)的上端內壁內部設置有滑槽(10)，所述滑槽(10)的內部設置有擋板(9)，所述擋板(9)下端外壁上設置有插柱(15)，所述擋板(9)前端外壁設置有連接桿(13)，所述連接桿(13)前端外壁上設置有踏板(14)，所述插柱(15)的外部套接有彈簧(16)，所述旋鈕(7)后側的支架(6)上設置有螺孔(11)，所述螺孔(11)的內部設置有螺桿(12)。

2.根據權利要求1所述的一種工程地質勘測水準儀，其特征在于：所述水準儀主體(1)后端外壁上設置有目鏡，所述刻度盤(4)圓周外壁上設置有刻度表。

3.根據權利要求1或2所述的一種工程地質勘測水準儀，其特征在于：所述支架(6)共設置有三個，三個所述支架(6)和基座(3)通過均轉軸固定連接。

4.根據權利要求3所述的一種工程地質勘測水準儀，其特征在于：所述擋板(9)和踏板(14)均為圓形的不銹鋼材質，所述插柱(15)下端外壁上設置有尖頭。

5.根據權利要求1、2或4所述的一種工程地質勘測水準儀，其特征在于：所述滑槽(10)的直徑大于擋板(9)的直徑，所述擋板(9)的直徑大于出口(17)的直徑。

6.根據權利要求5所述的一種工程地質勘測水準儀，其特征在于：所述支架(6)前端外壁內部設置有連接槽(18)，所述連接槽(18)最后端設置在滑槽(10)的圓周內壁上，所述連接桿(13)設置在連接槽(18)的內部。