[實(shí)用新型]一種用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202021001691.4 | 申請日: | 2020-06-04 |
| 公開(公告)號: | CN212340165U | 公開(公告)日: | 2021-01-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 秦襄培;王世民;陳林;袁小龍;徐瑞 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢工程大學(xué) |
| 主分類號: | G01B9/02 | 分類號: | G01B9/02;G01B9/04;G02B21/36;G01B11/06;G01B11/24;G01N21/84 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 張力波 |
| 地址: | 430000 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 白光 干涉儀 普通 光學(xué) 顯微鏡 測量 物體 平臺 | ||
1.一種用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:包括相機(jī)(1)、相機(jī)支架座(2)、滑軌(3)和載物臺(4),所述滑軌(3)水平設(shè)置,其一端與白光干涉儀底座(5)固定連接,所述相機(jī)支架座(2)豎直固定安裝在所述滑軌(3)的另一端,所述相機(jī)(1)可定位的上下移動(dòng)的安裝在所述相機(jī)支架座(2)上;所述載物臺(4)可定位的水平滑動(dòng)安裝在所述滑軌(3)上,且其可上下移動(dòng)并定位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述相機(jī)支架座(2)上可定位的上下滑動(dòng)的安裝有安裝座(6),所述相機(jī)(1)固定安裝在所述安裝座(6)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述安裝座(6)上設(shè)有與所述相機(jī)支架座(2)匹配的凹槽,所述相機(jī)支架座(2)伸入所述凹槽內(nèi)并與其滑動(dòng)配合。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述相機(jī)支架座(2)的兩側(cè)分別設(shè)有與所述安裝座(6)的兩側(cè)配合的滑槽(7),所述安裝座(6)的兩側(cè)分別伸入兩個(gè)所述滑槽(7)內(nèi)并滑動(dòng)配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述相機(jī)支架座(2)上沿豎直方向均勻間隔設(shè)有多個(gè)定位孔,所述安裝座(6)上設(shè)有通孔;所述安裝座(6)上下滑動(dòng)至所述通孔與其中一個(gè)所述定位孔連通,將插銷一(8)依次插入所述通孔和所述定位孔內(nèi),以定位所述安裝座(6)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述滑軌(3)上可定位的水平滑動(dòng)的安裝有滑塊一(9),所述載物臺(4)可定位的上下移動(dòng)的安裝在所述滑塊一(9)上。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述滑軌(3)上沿其長度方向設(shè)有楔形凸起一,所述楔形凸起一上沿所述滑軌(3)的長度方向均勻間隔設(shè)有多個(gè)定位槽;所述滑塊一(9)上設(shè)有與所述楔形凸起一配合的楔形槽一,所述滑塊一(9)上設(shè)有與所述楔形槽一貫通的圓孔;所述楔形凸起一與所述楔形槽一滑動(dòng)配合,滑動(dòng)所述滑塊一(9),至所述圓孔與其中一個(gè)所述定位槽連通,將插銷二插入所述定位槽和所述圓孔內(nèi)以定位所述滑塊一(9)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述滑塊一(9)上可定位的上下移動(dòng)的安裝有滑塊二(10),所述載物臺(4)沿所述滑軌(3)的寬度方向水平移動(dòng)的安裝在所述滑塊二(10)上。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述滑塊一(9)呈L形結(jié)構(gòu),所述滑塊二(10)的一端上設(shè)有楔形凸起二,所述滑塊一(9)豎直部的一側(cè)上豎直的設(shè)有與所述楔形凸起二配合的楔形槽二,所述楔形凸起二與所述楔形槽二滑動(dòng)配合。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于白光干涉儀與普通光學(xué)顯微鏡測量物體的平臺,其特征在于:所述滑塊二(10)上設(shè)有容納所述載物臺(4)的容納槽(11),所述容納槽(11)的側(cè)壁上沿所述滑軌(3)的寬度方向設(shè)有楔形槽三,所述載物臺(4)的一端上設(shè)有與所述楔形槽三配合的楔形凸起三,所述楔形凸起三卡入所述楔形槽三內(nèi)并滑動(dòng)配合。
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