[實用新型]一種吸濕性閃爍晶體雙透防潮封裝結構

有效

• 申請號: 202021000822.7
• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN213210489U
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 侯越云;張明榮;桂強;張春生
• 申請（專利權）人: 北京玻璃研究院有限公司;北京一輕研究院有限公司
• 主分類號: G01T1/202
• 分類號: G01T1/202;B01D53/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種吸濕性閃爍晶體雙透防潮封裝結構，其特征在于兩個定位圈通過內外螺紋旋接組成腔體，該腔體內固定有側壁貼附反光層的吸濕性閃爍晶體。所述定位圈外端面外邊緣加工有倒角，與殼體內底端倒角相匹配。定位圈外端面比同側閃爍晶體端面高出一定距離，組成具有一定深度的圓形凹槽。定位圈外端面緊貼光學窗口，該光學窗口與閃爍晶體端面通過凹槽中的光學耦合層進行耦合連接，凹槽的深度決定光學耦合層的厚度。本實用新型有效定量控制光耦合膠，保證光耦合膠的厚度的均勻性；使閃爍晶體有效定位，增強雙透封裝件抗震動和沖擊性，避免晶體錯位、光耦合面出現脫層。

技術領域

本實用新型涉及吸濕性閃爍晶體封裝技術，尤其涉及一種吸濕性閃爍晶體雙透封裝件的防潮封裝結構。

背景技術

閃爍晶體在環境監測、工業測控、核醫學成像、安全檢查、核物理和高能物理科學研究等方面都有廣泛的應用。目前在閃爍晶體中閃爍性能優異的多屬于具有吸濕性的晶體，如摻鈰的溴化鑭（LaBr₃:Ce）晶體、摻鈰的氯化鑭（LaCl₃:Ce）晶體、溴化鈰（CeBr₃）晶體、摻鉈的碘化鈉（NaI:Tl）晶體、摻銪的碘化鍶（SrI₂:Eu）晶體等。吸濕性閃爍晶體在應用前均需經過嚴格的防潮封裝，方可進一步制作成各種核儀器，應用于室內或室外的核探測裝置或系統。

對于吸濕性閃爍晶體的防潮封裝，工藝較為成熟的多為單透封裝（即封裝件一端作為出光面），而雙透封裝（即封裝件兩個端面均為出光面）對工藝的要求更高。目前，吸濕性閃爍晶體的雙透防潮封裝件經常出現的問題，有晶體開裂、光學耦合面脫層等情況，其原因主要有兩個，一是未能有效地控制光學耦合層的厚度，二是未能對晶體進行有效定位。一般地，采用傳統封裝方法對吸濕性閃爍晶體進行雙透封裝時，為確保光學耦合面無氣泡，需反復用力擠壓晶體將氣泡排除。這種做法很難控制光學耦合層的厚度，因而難以使兩個端面上的光學耦合層均勻一致。而若無有效的定位方式，當封裝件受到震動或沖擊時，晶體與封裝殼體之間便容易松動，從而使晶體位置偏移，光學耦合面出現脫層，甚至導致晶體開裂，雙透封裝件報廢。

一項名稱為“一種耐高溫兩端具有光輸出窗口的閃爍晶體封裝結構”的中國專利（專利號：CN210442513U），雖然涉及一種兩端具有光輸出光學窗口的閃爍晶體封裝結構，但它并未涉及光學耦合層厚度的有效控制技術，也未涉及閃爍晶體在殼體內的有效定位技術，因而難以避免雙透封裝件出現光學耦合層脫層等現象。對于吸濕性閃爍晶體的雙透封裝，需要一套合理可行的解決方法，以實現吸濕性閃爍晶體雙透封裝工藝的可控性和穩定性。

發明內容

為了解決現有技術中吸濕性閃爍晶體雙透封裝件的光學耦合層厚度不均勻和出現脫層以及抗震動沖擊差的難題，本實用新型提供一種新的吸濕性閃爍晶體雙透防潮封裝結構，通過新的結構設計控制晶體與光學窗口的距離，并對殼體內的晶體進行有效定位。

本實用新型解決其技術問題所采取的技術方案是：采用一種新的吸濕性閃爍晶體雙透防潮封裝結構，包括殼體、吸濕性閃爍晶體、反光層、定位圈、光學窗口、光學耦合層，第一、第二定位圈套于吸濕性閃爍晶體兩端面上，吸濕性閃爍晶體柱面包覆反光層，第一定位圈外壁設置有外螺紋，第二定位圈內壁設置有內螺紋，兩定位圈通過內外螺紋緊固旋接，第一定位圈、吸濕性閃爍晶體、反光層、第二定位圈構成一個閃爍晶體包裹體，第一定位圈外端面與第一光學窗口貼合，第二定位圈與第二光學窗口貼合，第一光學窗口通過第一光學耦合層與吸濕性閃爍晶體第一端面耦合，第二光學窗口通過第二光學耦合層與吸濕性閃爍晶體第二端面耦合，第一光學窗口與第一殼體通過環氧密封膠密封粘接，第二光學窗口與第二殼體通過環氧密封膠密封粘接。

進一步地，所述第一、第二定位圈材質為聚四氟乙烯，吸濕性閃爍晶體側面包裹所述反光層且緊固于定位環圈組成的腔室內，第一定位圈與第二定位圈通過匹配的螺紋連接。

進一步地，所述第一、第二定位圈外端面外邊緣加工有倒角，與殼體內底端倒角相匹配。