[實用新型]一種半導體分立器件的耐壓測試裝置

有效

• 申請號: 202020977963.8
• 申請日: 2020-06-01
• 公開（公告）號: CN212391570U
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 張建軍;盧維明
• 申請（專利權）人: 江蘇寶浦萊半導體有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R31/26;G01R1/02
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 周瓊

本實用新型公開了一種半導體分立器件的耐壓測試裝置，包括底部組件與調節組件，所述調節組件固定安裝在底部組件的頂部；所述底部組件包括殼體，所述殼體內壁的底部固定安裝有耐壓測試裝置主體，所述殼體的右側固定安裝有操作面板，所述殼體頂部的中點處固定安裝有中心引腳插塊。本實用新型通過底部組件和調節組件的相互配合，使得半導體分立器件的耐壓測試裝置方便調節兩個側邊引腳插塊之間的間距，這樣就可以很好地針對不同類型的半導體分立器件去進行耐壓測試，還提升了半導體分立器件的耐壓測試裝置的抗震效果，有效避免半導體分立器件的耐壓測試裝置內的元器件因震動而損壞，實用性高，適合推廣使用。

技術領域

本實用新型涉及半導體分立器件測試技術領域，具體為一種半導體分立器件的耐壓測試裝置。

背景技術

半導體分立器件，泛指半導體晶體二極管、半導體三極管簡稱三極管、三極管及半導體特殊器件，現有半導體分立器件在出廠之前需要進行各方面的電性能測試，現有半導體分立器件的耐壓測試裝置不方便調節引腳連接件的間距，不能很好地針對不同類型的半導體分立器件進行耐壓測試，并且，現有半導體分立器件的耐壓測試裝置抗震效果不理想，實用性低。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種半導體分立器件的耐壓測試裝置，以解決背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種半導體分立器件的耐壓測試裝置，包括底部組件與調節組件，所述調節組件固定安裝在底部組件的頂部；

所述底部組件包括殼體，所述殼體內壁的底部固定安裝有耐壓測試裝置主體，所述殼體的右側固定安裝有操作面板，所述殼體頂部的中點處固定安裝有中心引腳插塊，所述殼體頂部的左右兩側均設置有側邊引腳插塊，所述殼體的下方設置有減震板，所述減震板頂部左右兩側的凹槽內均固定安裝有減震殼，所述減震殼內壁上滑動連接有活動板，所述活動板的頂部固定連接有減震桿，所述減震桿的頂端貫穿減震殼且延伸至其外部與殼體的底部固定連接，所述殼體底部的左右兩側均固定連接有減震彈簧，所述減震彈簧的底端與減震板的頂部固定連接；

所述調節組件包括固定安裝在殼體頂部左側的固定板，所述固定板右側的凹槽內通過軸承固定安裝有螺紋桿，所述螺紋桿的右端固定連接有把手，所述螺紋桿表面的左右兩側均螺紋連接有移動板，所述移動板靠近側邊引腳插塊的一側固定連接有連接桿，所述連接桿遠離固定板的一側固定連接有連接塊，所述連接塊靠近側邊引腳插塊的一側與其固定連接。

優選的，所述減震桿與減震殼之間活動連接。

優選的，所述軸承外環的表面與固定板固定連接，所述軸承內環的內壁與螺紋桿的表面固定連接。

優選的，所述螺紋桿表面的右側活動安裝有軸承座，所述軸承座的底部與殼體的頂部固定連接。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果如下：

1、本實用新型通過底部組件和調節組件的相互配合，使得半導體分立器件的耐壓測試裝置方便調節兩個側邊引腳插塊之間的間距，這樣就可以很好地針對不同類型的半導體分立器件去進行耐壓測試，還提升了半導體分立器件的耐壓測試裝置的抗震效果，有效避免半導體分立器件的耐壓測試裝置內的元器件因震動而損壞，實用性高，適合推廣使用。

2、本實用新型通過設置軸承座，起到了穩固螺紋桿的作用，避免螺紋桿因承受較多的重量而發生彎折。

附圖說明

圖1為本實用新型正視圖的結構剖面圖；

圖2為本實用新型俯視圖的結構剖面圖。