[實用新型]蛇形彈片針組件有效
| 申請號: | 202020949947.8 | 申請日: | 2020-05-29 |
| 公開(公告)號: | CN212410656U | 公開(公告)日: | 2021-01-26 |
| 發明(設計)人: | 齊進軍 | 申請(專利權)人: | 深圳市飛時通科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073 |
| 代理公司: | 重慶項乾光宇專利代理事務所(普通合伙) 50244 | 代理人: | 高姜 |
| 地址: | 518103 廣東省深圳市寶安區福*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 蛇形 彈片 組件 | ||
本實用新型涉及電子測試技術領域,具體涉及蛇形彈片針組件,包括模芯、異形彈片針和封板,所述異形彈片針包括彈片針頭部、彈片針本體和彈片針尾部,且所述彈片針頭部、彈片針本體和彈片針尾部一體成型,所述彈片針頭部的自由端設有測試體接觸端,所述彈片針尾部遠離彈片針本體的一側設有導通接觸端,所述模芯開有自上而下貫通的第一插孔,所述異形彈片針穿過所述第一插孔,且所述測試體接觸端延伸在第一插孔外部,所述封板上開有第二插孔,所述彈片針尾部穿過第二插孔,且所述導通接觸端延伸到第二插孔外部,本實用新型所要解決的技術問題:提供一種適應性好、結構強度強、并能較高的提升測試精度的一種蛇形彈片針組件。
技術領域
本實用新型涉及電子測試技術領域,具體涉及蛇形彈片針組件。
背景技術
測試制程乃是于IC封裝后,測試封裝完成的產品的電性功能,以保證出廠IC功能上的完整性,并對已測試的產品依其電性功能作分類,作為IC不同等級產品的評價依據,最后并對產品作外觀檢驗作業。
電性功能測試乃針對產品之各種電性參數進行測試以確定產品能正常運作。
傳統的同一被測端子上兩點接觸的測試如開爾文測試等,多采用雙頂針或雙金手指平行并列分布的方式,隨著半導體產品尺寸的不斷縮小,被測端子的尺寸以及不同被測端子間的間距也在不斷縮小,為了順應這一趨勢,傳統平行并列分布的雙頂針或雙金手指測試方式在其密間距的問題上瓶頸日益突出,精度要求越來越高,有些甚至已無法實現了,為了在被測端子上有限的空間內實現兩點接觸測試,頂針或金手指相應越來越細,其機械結構強度也越來越弱,傳統的頂針或金手指的測試接觸頭較易受磨損,尤其在精度提出更高要求、機械強度相對較低時,磨損程度更大,進而降低了測試治具的使用壽命,為順應半導體輕薄短小的發展需求,越來越細的頂針或金手指所產生的電阻值不斷增大,同時在進行大電流測試時,會產生較大的壓降而影響測試數值的判斷;另一方面,平行并列分布的雙頂針或雙金手指的也容易因兩者間的位移偏差而產生測試數值的偏差;此外,傳統并列分布的雙頂針為了縮小兩針間的距離而采用兩個背對斜面的接觸方式,接觸頭容易因其整體結構中彈簧伸縮的扭力而旋轉出被測端子進而影響測試精度。
公開號為CN209656848U的一種終端主板性能測試治具,包括檢測設備,檢測設備上表面設有機架,機架包括托板和壓板,托板兩端分別設有半圓形的延伸件,延伸件內穿設有導向軸,導向軸一端與檢測設備上表面固定連接,導向軸另一端穿過壓板向上延伸;托板中部設有位移機構,位移機構上表面安置有主板治具;壓板中部設有模板通槽,模板通槽下表面設有若干限位塊,模板通槽內部設有測試針板,測試針板上表面設有若干PCB轉接板,PCB轉接板下方設有探針,探針穿過測試針板延伸向下;PCB轉接板與檢測設備電性連接;機架背側設有氣缸,氣缸包括缸體和活塞,缸體與托板固定連接,活塞與壓板固定連接,具有結構合理、操作方便、適應性好和工作效率高的優點。
但是上述現有技術仍存在以下缺陷:(1)結構強度較弱;(2)使用壽命較短;(3)測試精度較低。
實用新型內容
本實用新型所要解決的技術問題:提供一種適應性好、結構強度強、并能較高的提升測試精度的一種蛇形彈片針組件。
本實用新型的基本方案為:蛇形彈片針組件,包括模芯、異形彈片針和封板,所述異形彈片針包括彈片針頭部、彈片針本體和彈片針尾部,且所述彈片針頭部、彈片針本體和彈片針尾部一體成型,所述彈片針頭部的自由端設有測試體接觸端,所述彈片針本體的首端與彈片針頭部連接,所述彈片針本體的末端與彈片針尾部連接,所述彈片針尾部遠離彈片針本體的一側設有導通接觸端,所述模芯開有自上而下貫通的第一插孔,所述異形彈片針穿過所述第一插孔,且所述異形彈片針的彈片針頭部穿過所述模芯的第一插孔上方,所述測試體接觸端延伸在第一插孔外部,所述彈片針本體置于所述第一插孔內,所述封板上開有第二插孔,所述彈片針尾部穿過第二插孔,且所述導通接觸端延伸到第二插孔外部。
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