[實用新型]一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構

有效

• 申請號: 202020945425.0
• 申請日: 2020-05-29
• 公開（公告）號: CN211977830U
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發明（設計）人: 李小根;胡爭光;師利全;羅東;賀天文;張煒;張強
• 申請（專利權）人: 深圳市鑫三力自動化設備有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 深圳市中聯專利代理有限公司 44274
• 代理人: 朱以智

1.一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，該偏差計算機構設置在檢測機的偏差計算檢測工位處，其特征在于，所述偏差計算機構具有底座(6)以及安裝在所述底座(6)低位平臺處的偏移量檢測平臺Y軸機構(7)、安裝于所述偏移量檢測平臺Y軸機構(7)上端移動部并被所述偏移量檢測平臺Y軸機構(7)驅動做Y軸向移動的料盤放置平臺(8)、裝設于所述料盤放置平臺(8)的角部處且用于校正料盤角度的料盤放置自動校正機構(9)、設置在所述底座(6)高位平臺處的XY軸驅動機構(10)以及側安裝于所述XY軸驅動機構(10)上并被所述XY軸驅動機構(10)驅動做XY軸向移動的線性激光傳感器(11)，所述線性激光傳感器(11)能夠運行至所述料盤放置平臺(8)的上方。

2.根據權利要求1所述的一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，其特征在于，所述底座(6)為凸型結構。

3.根據權利要求1所述的一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，其特征在于，所述偏移量檢測平臺Y軸機構(7)動力源為電機，所述電機的驅動端連接絲桿，所述絲桿螺接有活動座組件，所述活動座組件的下端兩側滑接于兩條滑軌上，其頂端板體上安裝所述料盤放置平臺(8)。

4.根據權利要求1所述的一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，其特征在于，所述料盤放置平臺(8)設有雙平臺，各平臺均采用真空吸附裝置吸附料盤，所述平臺上設有陣列式凸臺結構，各凸臺上設有獨立的吸附孔對單個產品進行吸附。

5.根據權利要求4所述的一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，其特征在于，所述料盤放置自動校正機構(9)設有兩組，分別固定在所述雙平臺的兩個角部，其上設有可沿夾角中線方向活動的伸縮裝置，該伸縮裝置的頂部設有直角條并在該直角條的上端面設有若干可轉動的軸。

6.根據權利要求1所述的一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，其特征在于，所述XY軸驅動機構(10)包括X軸驅動機構和Y軸驅動機構，所述X軸驅動機構和Y軸驅動機構均采用電機驅動絲桿的旋轉帶動對應的移動部運動，其中，所述Y軸驅動機構固定在所述底座(6)的高位平臺上，其驅動所述X軸驅動機構做Y軸向運動，所述線性激光傳感器(11)側固定在所述X軸驅動機構的移動部。

7.根據權利要求1所述的一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，其特征在于，所述線性激光傳感器(11)采用兩套激光傳感器同時對組裝成品的鏡框和鏡片的四個點進行檢測計算其偏差值。

8.根據權利要求1-7任意一項所述的一種光學器件高精度組裝高度檢測的偏差計算機構，其特征在于，所述底座(6)為大理石安裝底座。