[實用新型]一種高精度產品檢查治具

有效

• 申請號: 202020912987.5
• 申請日: 2020-05-26
• 公開（公告）號: CN211953933U
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發明（設計）人: 于波;王金柱
• 申請（專利權）人: 無錫通芝微電子有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 無錫華源專利商標事務所(普通合伙) 32228
• 代理人: 聶啟新

本實用新型涉及一種高精度產品檢查治具，包括底板，所述底板上表面依次疊放連接有測量齒和定位塊，底板、測量齒和定位塊固定連接成整體；所述定位塊上開有U形缺口，U形缺口和底板構成U形定位槽，所述測量齒的測量端位于所述U形定位槽內，所述測量端的上下兩側分別設有上排齒和下排齒。本實用新型根據產品排針的寬度及其偏差的規格來確定檢查治具的槽寬，從而保證檢查的準確性，操作簡便，和傳統的顯微鏡檢查相比，將檢測時間從20分鐘縮短到1分鐘，極大地提高了檢查效率。檢測端的條形槽采用倒角設計，使其具有良好的導向性，保證檢查治具的加工精度和性能；檢測端的厚度小于排針高，從而避免產品背面不與檢查治具接觸造成磨損。

技術領域

本實用新型涉及DIP產品檢測技術領域，尤其是一種高精度產品檢查治具。

背景技術

現有DIP產品(雙列直插封裝(英語：dual in-line package)也稱為DIP封裝或DIP包裝，簡稱為DIP或DIL，是一種集成電路的封裝方式，集成電路的外形為長方形，在其兩側有兩排平行的金屬引腳，稱為排針)，在偏斜檢查(LEAD SKEW)時需要通過顯微鏡確認，實體顯微鏡存在誤差大，工具顯微鏡存在檢查效率低的問題。

實用新型內容

本實用新型所采用的技術方案如下：

一種高精度產品檢查治具，包括底板，所述底板上表面依次疊放連接有測量齒和定位塊，底板、測量齒和定位塊固定連接成整體；所述定位塊上開有U形缺口，U形缺口和底板構成U形定位槽，所述測量齒的測量端位于所述U形定位槽內，所述測量端的上下兩側分別設有上排齒和下排齒。

其進一步技術方案在于：

測量齒整體成T型結構，包括固定端和所述測量端，固定端上下表面分別定位塊、底板固定連接，測量端在U形定位槽內沿長度方向延伸，測量端的上下兩側邊緣均沿長度方向間隔開有多個條形槽，上側邊緣的相鄰條形槽之間形成所述上排齒，上側邊緣的相鄰條形槽之間形成所述下排齒。

條形槽槽口具有倒角結構。

測量端的厚度小于被測產品排針的高度。

測量端與底板固定連接。

底板、測量齒和定位塊分別開有相互對應的螺栓孔，三者通過所述螺栓孔螺栓連接。

本實用新型的有益效果如下：

本實用新型結構設計合理，根據產品引腳的寬度及其偏差的規格來確定檢查治具的條形槽的槽寬，檢測準確度高、操作簡便，和傳統的顯微鏡檢查相比，將檢測時間從20分鐘縮短到1分鐘，極大地提高了檢查效率。

本實用新型根據產品結構尺寸的不同對檢查治具進行變更，以對應不同產品的偏斜檢查；檢查治具采用防氧化處理，避免氧化影響治具的精度；檢查治具的條形槽的開槽采用倒角設計，使其具有良好的導向性，保證檢查治具的加工精度和性能；檢查治具的厚度小于排針高，從而保證產品背面不與檢查治具接觸；

附圖說明

圖1為本實用新型的俯視圖。

圖2為本實用新型爆炸圖。

圖3為本實用新型拆去上部定位塊后的結構示意圖。

圖4為本實用新型工作過程中產品滑入治具狀態的結構示意圖。

圖5為本實用新型工作過程中對產品下排針和上排針進行檢測的狀態示意圖。

圖6為本實用新型工作流程示意圖。

其中：1、定位塊；2、測量齒；3、底板；4、U形定位槽；5、被測產品；21、固定端；22、測量端；101、U形缺口；221、上排齒；222、下排齒；223、條形槽。

具體實施方式