[實用新型]芯片檢測模塊

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202020877979.1
• 申請日: 2020-05-22
• 公開（公告）號: CN212134707U
• 公開（公告）日: 2020-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 許行尚;杰弗瑞·陳;張前軍;魯加勇
• 申請（專利權(quán)）人: 南京嵐煜生物科技有限公司
• 主分類號: G01N33/53
• 分類號: G01N33/53
• 代理公司: 南京正聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32243
• 代理人: 顧伯興

本實用新型公開了一種芯片檢測模塊，包括有光路檢測組件和檢測撥手組件；所述檢測撥手組件中的檢測撥手將芯片撥動至檢測位，檢測位位于芯片載臺上，芯片載臺移動使光路檢測組件對芯片進行檢測；芯片檢測模塊設(shè)置有上部屏蔽罩和下部屏蔽罩。芯片檢測模塊設(shè)置了上部屏蔽罩和下部屏蔽罩兩個屏蔽罩，減少環(huán)境光對檢測結(jié)果的影響。優(yōu)選地，檢測撥手組件具有檢測撥手控制電機，檢測撥手控制電機驅(qū)動檢測撥手控制電機主動輪旋轉(zhuǎn)，檢測撥手控制電機主動輪通過檢測撥手控制電機皮帶帶動檢測撥手控制電機從動輪；檢測撥手與檢測撥手滑塊連接塊連接，檢測撥手滑塊連接塊固定連接有檢測撥手滑塊，檢測撥手滑塊與檢測撥手沿著檢測撥手滑滑軌運動。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型屬于醫(yī)療設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種用于基于微流控芯片項目的熒光免疫檢測的時間分辨熒光免疫分析儀的芯片檢測模塊。

背景技術(shù)

微流控芯片(microfluidic chip)是當前微全分析系統(tǒng)(Miniaturized TotalAnalysis Systems)發(fā)展的熱點領(lǐng)域。微流控芯片分析以芯片為操作平臺，同時以分析化學為基礎(chǔ)，以微機電加工技術(shù)為依托，以微管道網(wǎng)絡(luò)為結(jié)構(gòu)特征,以生命科學為目前主要應(yīng)用對象，是當前微全分析系統(tǒng)領(lǐng)域發(fā)展的重點。它的目標是把整個化驗室的功能，包括采樣、稀釋、加試劑、反應(yīng)、分離、檢測等集成在微芯片上。微流控芯片是微流控技術(shù)實現(xiàn)的主要平臺。其裝置特征主要是其容納流體的有效結(jié)構(gòu)(通道、反應(yīng)室和其它某些功能部件)至少在一個緯度上為微米級尺度。由于微米級的結(jié)構(gòu)，流體在其中顯示和產(chǎn)生了與宏觀尺度不同的特殊性能。因此發(fā)展出獨特的分析產(chǎn)生的性能。微流控芯片的特點及發(fā)展優(yōu)勢：微流控芯片具有液體流動可控、消耗試樣和試劑極少、分析速度成十倍上百倍地提高等特點，它可以在幾分鐘甚至更短的時間內(nèi)進行上百個樣品的同時分析，并且可以在線實現(xiàn)樣品的預處理及分析全過程。其產(chǎn)生的應(yīng)用目的是實現(xiàn)微全分析系統(tǒng)的終極目標－芯片實驗室，目前工作發(fā)展的重點應(yīng)用領(lǐng)域是生命科學領(lǐng)域。

當前國際研究現(xiàn)狀：創(chuàng)新多集中于分離、檢測體系方面；對芯片上如何引入實際樣品分析的諸多問題，如樣品引入、換樣、前處理等有關(guān)研究還十分薄弱。它的發(fā)展依賴于多學科交叉的發(fā)展。

在中國專利文獻CN108414522A中，公開了一種一種用于微流控芯片和NC膜多通量檢測一體機的裝置，包括有底座，所述底座上設(shè)置有進樣模塊、溫育模塊、清洗模塊、NC膜檢測模塊和芯片檢測模塊；其中，所述進樣模塊中設(shè)置有相互獨立的芯片進樣卡槽和NC膜進樣卡槽，分別用于插入芯片或NC膜卡條；所述進樣模塊中還設(shè)置有液路氣路模塊；所述溫育模塊上具有相互獨立的芯片溫育槽和NC膜溫育槽，且所述進樣模塊、清洗模塊和NC膜檢測模塊沿所述溫育模塊長度方向上的側(cè)面設(shè)置；在所述清洗模塊中被清洗后的芯片送至所述芯片檢測模塊中進行檢測。

在實際的使用過程中發(fā)現(xiàn)芯片檢測模塊不是很理想，有必要對其進行改進。

實用新型內(nèi)容

本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種用于時間分辨熒光免疫分析儀的芯片檢測模塊。

為解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用的技術(shù)方案是，該芯片檢測模塊包括有光路檢測組件和檢測撥手組件；所述檢測撥手組件中的檢測撥手將芯片撥動至檢測位，所述檢測位位于芯片載臺上，所述芯片載臺移動使所述光路檢測組件對芯片進行檢測；所述芯片檢測模塊設(shè)置有上部屏蔽罩和下部屏蔽罩。由于檢測時需要避光，所以芯片檢測模塊設(shè)置了上部屏蔽罩和下部屏蔽罩兩個屏蔽罩，減少環(huán)境光對檢測結(jié)果的影響。

優(yōu)選地，所述檢測撥手組件具有檢測撥手控制電機，所述檢測撥手控制電機驅(qū)動檢測撥手控制電機主動輪旋轉(zhuǎn)，所述檢測撥手控制電機主動輪通過檢測撥手控制電機皮帶帶動檢測撥手控制電機從動輪；所述檢測撥手與檢測撥手滑塊連接塊連接，所述檢測撥手滑塊連接塊固定連接有檢測撥手滑塊，所述檢測撥手滑塊與所述檢測撥手沿著檢測撥手滑滑軌運動。

優(yōu)選地，所述檢測撥手一端設(shè)置有檢測撥手限位片，設(shè)置在所述芯片檢測模塊的底板上的檢測撥手限位光耦連接塊固定連接檢測撥手限位光耦，用于所述檢測撥手的運動限位。