[實用新型]一種芯片測試分選機輔助給料裝置

有效

• 申請號: 202020835117.2
• 申請日: 2020-05-18
• 公開（公告）號: CN212424502U
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 覃超
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普科技有限公司
• 主分類號: B65G47/14
• 分類號: B65G47/14
• 代理公司: 深圳市中聯專利代理有限公司 44274
• 代理人: 李俊

1.一種芯片測試分選機輔助給料裝置，包括進料箱(1)、下料機構(4)和傳送帶，其特征在于：所述進料箱(1)內壁底部固定連接有兩個定位卡槽和與定位卡槽相對于的卡塊(17)，所述卡塊(17)與支撐板(18)兩端卡接，所述支撐板(18)上固定連接有小擋環(20)和大擋環(19)，且小擋環(20)和大擋環(19)的圓心均為支撐板(18)的中點，所述進料箱(1)下端與下料斗(2)頂部通過焊接的方式固定連接，所述下料斗(2)底部與下料機構(4)頂部活動連接；

所述下料機構(4)內壁中央位置與輪軸(10)固定連接，輪軸(10)與轉動轆轤(8)轉動連接，轉動轆轤(8)弧度面上均勻等距固定連接有多個隔斷板(9)，所述下料機構(4)內部底端通過支撐架(12)固定連接有緩沖滑槽(11)，所述緩沖滑槽(11)沿Y軸向上傾斜，緩沖滑槽(11)左端與出料口(5)固定連接，所述輪軸(10)左端與下料機構(4)左側內壁固定連接，輪軸(10)右端穿過下料機構(4)右側內壁與齒輪環(15)套接，下料機構(4)左側設置有電機(13)，電機(13)左側轉動連接有齒輪轉軸(14)，所述齒輪轉軸(14)與齒輪環(15)嚙合連接。

2.根據權利要求1所述的一種芯片測試分選機輔助給料裝置，其特征在于：所述進料箱(1)為梯臺型，進料箱(1)上端和下端均為開口端，所述下料斗(2)為錐形，下料斗(2)上端和下端均為開口端，且下料斗(2)底部的開口端成一字型。

3.根據權利要求1所述的一種芯片測試分選機輔助給料裝置，其特征在于：所述下料斗(2)底部活動連接有抽板(3)，抽板(3)寬度略小于下料斗(2)底端開口寬度。

4.根據權利要求1所述的一種芯片測試分選機輔助給料裝置，其特征在于：所述下料機構(4)底部設置有傳送帶a(6)，傳送帶a(6)的一端表面與出料口(5)貼合，傳送帶a(6)另一端與傳送帶b(7)左端緊密連接。

5.根據權利要求1所述的一種芯片測試分選機輔助給料裝置，其特征在于：所述緩沖滑槽(11)的寬度略大于隔斷板(9)的寬度，緩沖滑槽(11)且上表面平穩光滑。

6.根據權利要求1所述的一種芯片測試分選機輔助給料裝置，其特征在于：所述隔斷板(9)表面光滑，轉動轆轤(8)弧度面上相鄰兩隔斷板(9)之間的弧度面光滑平穩。

7.根據權利要求1所述的一種芯片測試分選機輔助給料裝置，其特征在于：所述小擋環(20)外弧與大擋環(19)內弧存有間隔，且每處間隔相等。