[實用新型]一種用于測試EPP鍵盤按鍵壽命的機構

有效

• 申請號: 202020799102.5
• 申請日: 2020-05-14
• 公開（公告）號: CN211877363U
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 王書霞;江浩然;張云峰;王淑萍;李燁
• 申請（專利權）人: 恒銀金融科技股份有限公司
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00;G01R31/327
• 代理公司: 天津市三利專利商標代理有限公司 12107
• 代理人: 韓新城

1.一種測試EPP鍵盤按鍵壽命的機構，包括設在支撐組件上的水平X向移動組件以及水平Y向移動組件，所述水平X向移動組件設有夾具組件，所述水平Y向移動組件設有電磁鐵控制的按壓組件，按壓組件可實現對裝在夾具組件上的EPP鍵盤進行按鍵壽命測試；其特征在于，夾具組件一側裝有與水平X向移動組件一起移動的攝像頭，攝像頭用于對按壓組件及按鍵位置進行記錄；水平X向移動組件及水平Y向移動組件分別由步進電機控制螺桿旋轉，沿導向軸實現水平面的X、Y兩個方向的運動。

2.根據權利要求1所述測試EPP鍵盤按鍵壽命的機構，其特征在于，按壓組件包括L型固定支架、與L形固定支架連接的電磁鐵及與電磁鐵連接的按壓器，通過控制通斷電，實現按壓器的往返運動，完成EPP鍵盤按鍵的按壓。

3.根據權利要求2所述測試EPP鍵盤按鍵壽命的機構，其特征在于，電磁鐵與L形固定支架通過位置調節孔連接，以實現調節電磁鐵的位置。

4.根據權利要求1所述測試EPP鍵盤按鍵壽命的機構，其特征在于，水平X向移動組件以及水平Y向移動組件裝有水平X向及Y向的限位傳感器，實現步進電機的反向或停止運轉。