[實用新型]涂層測厚儀的探頭結構

有效

• 申請號: 202020749580.5
• 申請日: 2020-05-09
• 公開（公告）號: CN212363155U
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: 張小強
• 申請（專利權）人: 深圳市維創興電子科技有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08
• 代理公司: 深圳知幫辦專利代理有限公司 44682
• 代理人: 李賾

1.一種涂層測厚儀的探頭結構，其特征在于，包括機體，所述機體上方連接有導線，所述導線另一端連接有檢測探頭，所述導線外部套設有柔性套管，所述柔性套管一端與機體上方固定連接，所述柔性套管另一端與檢測探頭固定連接，所述柔性套管內還設有伸縮桿，所述伸縮桿一端固定于機體上方，所述伸縮桿另一端設有把手，所述把手延伸出柔性套管，所述柔性套管沿表面開設有滑動槽，所述把手設置于滑動槽內。

2.如權利要求1所述的涂層測厚儀的探頭結構，其特征在于，所述柔性套管靠近檢測探頭一端設有卡環，所述卡環位于滑動槽一側，所述卡環用于固定把手。

3.如權利要求2所述的涂層測厚儀的探頭結構，其特征在于，所述檢測探頭與柔性套管之間設有加固套，所述加固套套設于導線外部，所述加固套與導線貼合固定。

4.如權利要求3所述的涂層測厚儀的探頭結構，其特征在于，所述柔性套管采用波紋管的結構。

5.如權利要求4所述的涂層測厚儀的探頭結構，其特征在于，所述柔性套管的長度與伸縮桿的拉伸長度相等。