[實用新型]試驗箱的雙開門密封結構

有效

• 申請號: 202020621995.4
• 申請日: 2020-04-23
• 公開（公告）號: CN212105655U
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: 馬龍進;劉加龍;顧金磊
• 申請（專利權）人: 無錫帕捷科技有限公司
• 主分類號: E06B7/22
• 分類號: E06B7/22;E06B3/36
• 代理公司: 江蘇漫修律師事務所 32291
• 代理人: 趙臻淞

本實用新型公開了一種試驗箱的雙開門密封結構，左門、右門樞接于箱體上，左門、右門與箱體的配合端面之間設置密封結構進行密封，左門與右門的對接縫隙處固定設置有支架，支架上設置第四密封條。本實用新型的左門、右門對接縫隙間隙處設置支架，通過支架上的第四密封條通過平面擠壓第三密封條，實現雙門對接縫隙間隙處密封，擠壓的部位位于第三密封條的外側，而不是在雙門對接縫隙之間，雙門對接縫隙處存在的斷差和縫隙不會對第四密封條擠壓第三密封條的密封效果產生影響，關門阻力小，利于將雙門關緊，避免由于密封條尺寸偏大或偏小而影響密封性，確保試試驗箱的密封性，避免漏氣。

技術領域

本實用新型涉及試驗裝置的開門密封技術領域，尤其是一種試驗箱的雙開門密封結構。

背景技術

試驗箱是模擬大氣氣候環境的試驗裝置，廣泛應用于航空航天產品、電子儀器儀表、材料、電工電子產品、各種電子元器件等領域，用于模擬檢驗產品的各項性能指標。一些試驗箱為了便于使用，將柜門設計為雙開門式，目前，雙開門式柜門與柜體間的密封方法通常是在柜門與柜體的接觸面上設置環形或矩形的密封件，同時在雙開門中間的對接縫隙處設置密封件，當雙開門關閉時，通過擠壓密封件可實現柜門與柜體間、左門與右門間的密封。由于柜門、密封件在生產制造時，不可避免會存在一定的誤差，在雙開門的對接縫隙處會存在一定斷差和縫隙，而使得雙開門對接縫隙處的密封件容易出現尺寸偏大或偏小的問題，偏大的密封件會導致雙開門關門阻力大、難以關緊，進而影響試驗箱體的密封性，偏小的密封件則會導致雙開門對其擠壓力度不足，而影響雙門間的密封性，進而影響試驗箱體的密封性。

實用新型內容

本申請人針對上述現有試驗箱的雙開門密封結構的雙開門對接縫隙處的密封件容易出現尺寸偏大或偏小的問題，而影響試驗箱體的密封性等缺點，提供一種結構合理的試驗箱的雙開門密封結構，避免雙開門對接縫隙處由于密封件尺寸偏大或偏小而影響密封性，確保試驗箱體的密封性，避免漏氣。

本實用新型所采用的技術方案如下：

一種試驗箱的雙開門密封結構，左門、右門樞接于箱體上，左門、右門與箱體的配合端面之間設置密封結構進行密封，左門與右門的對接縫隙處固定設置有支架，支架上設置第四密封條，關門時，通過第四密封條壓緊左門或右門上的密封結構實現對接縫隙處的密封。

本實用新型的左門、右門對接縫隙間隙處設置支架，通過支架上的第四密封條通過平面擠壓第三密封條，實現雙門對接縫隙間隙處密封，擠壓的部位位于第三密封條的外側，而不是在雙門對接縫隙之間，雙門對接縫隙處存在的斷差和縫隙不會對第四密封條擠壓第三密封條的密封效果產生影響，關門阻力小，利于將雙門關緊；而且支架是通過緊固件可拆卸固定在左門上，便于調節支架的合適伸出高度，保證第四密封條擠壓第三密封條的擠壓變形度，避免由于密封條尺寸偏大或偏小而影響密封性，確保試試驗箱的密封性，避免漏氣。

作為上述技術方案的進一步改進：

箱體的前端壁面上設置第一密封條，左門、右門的對應壁面上分別設置第二密封條、第三密封條，所述密封結構包括第一密封條、第二密封條、第三密封條；左門、右門關閉時，左門、右門與箱體的配合面分別擠壓第一密封條、第二密封條、第三密封條，進行密封。

第二密封條、第三密封條分別位于第一密封條的外側。

第一密封條的上、下兩邊對應左門與右門的接縫部位分別開設有缺口，形成左右對稱布置的一面開口、三面封閉的四邊形布置。

第二密封條、第三密封條呈四邊封閉的四邊形布置。

本實用新型的箱體與左門、右門的配合端面之間分別通過第一密封條與第二密封條或第三密封條兩道密封條進行雙重密封，密封性更好，且第一密封條與第二密封條、第三密封條分別設置于箱體與左門、右門上，更利于保證密封性，即使其中一道密封條由于生產誤差而出現尺寸不匹配的問題，仍然可以通過另一道密封條進行密封，密封可靠性更高。