[實用新型]光模塊高溫測試裝置

有效

• 申請號: 202020616909.0
• 申請日: 2020-04-22
• 公開（公告）號: CN211877345U
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 鄧俊杰;黃保
• 申請（專利權）人: 武漢銳科光纖激光技術股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 張琪

本實用新型涉及光電子通信技術領域，公開了一種光模塊高溫測試裝置，包括：測試盒，所述測試盒的內部嵌設有由上至下依次相接觸的預熱塊、加熱塊以及過渡加熱塊，所述加熱塊用于為所述預熱塊和所述過渡加熱塊供熱；所述預熱塊內開設有用于放置待測光模塊的預熱槽，所述過渡加熱塊上開設有用于放置待測光模塊的測試槽；所述測試盒的內部安裝有射頻測試板，位于所述測試槽上的待測光模塊與所述射頻測試板的連接器相裝配。本實用新型提供的光模塊高溫測試裝置，實現了光模塊在高溫環境下的功能測試，加熱工位數根據該測試工藝的工時而設定，有效地提高的光模塊預熱的效率，保證了產品的可靠性。

技術領域

本實用新型涉及光電子通信技術領域，特別是涉及一種光模塊高溫測試裝置。

背景技術

光模塊生產過程中，高溫測試是非常重要的一項測試，多數情況下會選擇在溫箱中進行測試。測試時需要將光模塊加熱到目標溫度才能進行測試，測試完成后，需要對下一個光模塊加熱才能開始測試，光模塊體表預熱時間較長，且每次只能單件產品測試，這樣的反復操作導致溫箱使用率及測試效率偏低，高溫測試環節是光模塊生產的瓶頸且不利于導入自動化流水線生產，因此設計一種提高光模塊高溫測試效率的裝置是非常必要的。

實用新型內容

本實用新型實施例提供一種光模塊高溫測試裝置，用以解決或部分解決現有的光模塊高溫測試效率低下的問題。

本實用新型實施例提供一種光模塊高溫測試裝置，包括：測試盒，所述測試盒的內部嵌設有由上至下依次相接觸的預熱塊、加熱塊以及過渡加熱塊，所述加熱塊用于為所述預熱塊和所述過渡加熱塊供熱；

所述預熱塊內開設有用于放置待測光模塊的預熱槽，所述過渡加熱塊上開設有用于放置待測光模塊的測試槽；所述測試盒的內部安裝有射頻測試板，位于所述測試槽上的待測光模塊與所述射頻測試板的連接器相裝配。

在上述技術方案的基礎上，所述光模塊高溫測試裝置還包括嵌設于所述測試盒內的保溫塊，所述保溫塊環繞所述過渡加熱塊的三個側面布置，所述保溫塊的頂部與所述加熱塊的底部相接觸。

在上述技術方案的基礎上，呈U形結構的所述保溫塊由鋁材制備而成。

在上述技術方案的基礎上，所述加熱塊包括加熱塊本體以及位于所述加熱塊本體內部的至少一根加熱棒。

在上述技術方案的基礎上，所述預熱塊內開設有間隔布置的多個所述預熱槽。

在上述技術方案的基礎上，所述光模塊高溫測試裝置還包括用于監測所述加熱塊的溫度的第一測溫單元。

在上述技術方案的基礎上，所述光模塊高溫測試裝置還包括用于監測所述預熱塊的溫度的第二測溫單元。

在上述技術方案的基礎上，所述測試盒包括底座、前隔熱座、后隔熱座、頂板以及兩張側板；位于所述底座上的所述前隔熱座、一張所述側板、所述后隔熱座以及另一張所述側板依次首尾相連，所述頂板與兩張所述側板相連；所述射頻測試板位于所述前隔熱座和所述后隔熱座上。

在上述技術方案的基礎上，所述前隔熱座和所述后隔熱座均與所述底座可拆卸地連接。

在上述技術方案的基礎上，所述底座、所述前隔熱座、所述后隔熱座、所述頂板以及兩張所述側板均采用電木制備而成。

本實用新型實施例提供的一種光模塊高溫測試裝置，將待測光模塊插入預熱塊的預熱槽中開始預熱，待測光模塊的溫度達到工藝要求時，便可以取出，隨后插入過渡加熱塊中的測試槽，此時待測光模塊與射頻測試板的連接器插緊后，開始對光模塊做功能性測試。本實用新型實施例提供的光模塊高溫測試裝置，實現了光模塊在高溫環境下的功能測試，加熱工位數根據該測試工藝的工時而設定，有效地提高的光模塊預熱的效率，保證了產品的可靠性。

附圖說明