[實(shí)用新型]LED芯片結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202020608785.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-04-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN211578783U | 公開(公告)日: | 2020-09-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郝茂盛;張楠;陳朋;袁根如;柳丁亮;馬艷紅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海芯元基半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/46 | 分類號(hào): | H01L33/46;H01L33/44;H01L33/36;H01L33/06;H01L33/00 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明偉 |
| 地址: | 201209 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | led 芯片 結(jié)構(gòu) | ||
本實(shí)用新型提供一種LED芯片結(jié)構(gòu),LED芯片結(jié)構(gòu)包括發(fā)光區(qū)及漏電防護(hù)區(qū),其中,通過位于漏電防護(hù)區(qū)中的覆蓋保護(hù)金屬層的鈍化層,以形成發(fā)光區(qū)的漏電防護(hù);或通過位于漏電防護(hù)區(qū)中的鈍化層的開口,以顯露保護(hù)金屬層,使發(fā)光區(qū)的N電極可同時(shí)作為漏電防護(hù)區(qū)的P電極,從而在漏電防護(hù)區(qū)形成一個(gè)與發(fā)光區(qū)橋接的反向保護(hù)二極管,以形成漏電保護(hù)電路;從而可有效解決LED芯片結(jié)構(gòu)的漏電問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體器件及制造領(lǐng)域,涉及一種LED芯片結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管(LED)具有體積小、效率高和壽命長等優(yōu)點(diǎn),在交通指示、戶外全色顯示等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。LED芯片的制備主要包括在碳化硅、硅、藍(lán)寶石(主要成分是Al2O3)等生長襯底上依次外延形成N型半導(dǎo)體層、有源層、P型半導(dǎo)體層,再在P型半導(dǎo)體層上配置P電極,以及在N型半導(dǎo)體層上配置N電極。
目前,LED芯片結(jié)構(gòu)制造中,通過采用激光剝離技術(shù),以去除生長襯底,制備具有單面發(fā)光的LED芯片結(jié)構(gòu),該LED芯片結(jié)構(gòu)雖具有出光效率高、出光集中、利于二次光學(xué)設(shè)計(jì)及表面顏色均勻等優(yōu)點(diǎn),但由于采用激光剝離技術(shù),制造過程中易損傷外延層,從而導(dǎo)致存在漏電的問題,造成靜電釋放(ESD)性能差。
因此,提供一種新型的LED芯片結(jié)構(gòu),實(shí)屬必要。
實(shí)用新型內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本實(shí)用新型的目的在于提供一種LED芯片結(jié)構(gòu),用于解決現(xiàn)有技術(shù)中在制備LED芯片結(jié)構(gòu)時(shí),所存在的漏電問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本實(shí)用新型提供一種LED芯片結(jié)構(gòu),所述LED芯片結(jié)構(gòu)包括:
外延疊層,所述外延疊層包括依次堆疊設(shè)置的N型半導(dǎo)體層、有源層及P型半導(dǎo)體層;
貫穿所述P型半導(dǎo)體層及有源層的第一溝槽及第二溝槽,以形成發(fā)光區(qū)及漏電防護(hù)區(qū);
位于所述發(fā)光區(qū)的反射鏡層;
位于所述發(fā)光區(qū)及漏電防護(hù)區(qū)的保護(hù)金屬層,所述保護(hù)金屬層包括公共保護(hù)金屬層,且所述公共保護(hù)金屬層通過所述第二溝槽分別與所述反射鏡層及漏電防護(hù)區(qū)的N型半導(dǎo)體層電連接;
鈍化層,所述鈍化層覆蓋所述保護(hù)金屬層、第一溝槽及第二溝槽,且顯露所述第一溝槽的底部;
第一電極,所述第一電極通過所述第一溝槽與所述發(fā)光區(qū)的N型半導(dǎo)體層電連接;
第三溝槽,所述第三溝槽至少貫穿所述N型半導(dǎo)體層,以顯露所述公共保護(hù)金屬層,且所述第三溝槽將所述發(fā)光區(qū)的外延疊層與所述公共保護(hù)金屬層隔離;
第二電極,所述第二電極通過所述第三溝槽與顯露的所述公共保護(hù)金屬層電連接。
可選地,位于所述漏電防護(hù)區(qū)的所述鈍化層具有開口,以顯露所述保護(hù)金屬層。
可選地,所述發(fā)光區(qū)的N型半導(dǎo)體層的厚度小于所述漏電防護(hù)區(qū)的N型半導(dǎo)體層的厚度。
可選地,所述第三溝槽貫穿所述發(fā)光區(qū)的外延疊層。
可選地,還包括與所述公共保護(hù)金屬層相接觸的電介質(zhì)層。
可選地,所述第三溝槽貫穿所述N型半導(dǎo)體層或貫穿所述N型半導(dǎo)體層及電介質(zhì)層。
可選地,還包括與所述P型半導(dǎo)體層相接觸的歐姆接觸層。
可選地,所述鈍化層的厚度的范圍包括1微米~3微米。
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