[實(shí)用新型]一種射線誘導(dǎo)熱釋光特性測(cè)量裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202020589635.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-04-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN212301291U | 公開(公告)日: | 2021-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬恩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門匯美集智科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/03 | 分類號(hào): | G01N21/03;G01N21/71 |
| 代理公司: | 深圳市博銳專利事務(wù)所 44275 | 代理人: | 鄭昱 |
| 地址: | 361000 福建省廈門市*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 射線 誘導(dǎo) 熱釋光 特性 測(cè)量 裝置 | ||
本實(shí)用新型公開了一種射線誘導(dǎo)熱釋光特性測(cè)量裝置,兼具通用性和擴(kuò)展性,且可放在光譜儀樣品倉中與光譜儀聯(lián)用。所述裝置包括:樣品箱,所述樣品箱由六個(gè)壁裝配而成,包括頂壁、底壁和四個(gè)側(cè)壁,所述樣品箱的除底壁以外的其余壁至少有兩個(gè)上設(shè)有裝配孔;射線源,用于產(chǎn)生射線,裝配在任意一個(gè)所述裝配孔上;變溫臺(tái),與樣品箱的底壁連接,用于對(duì)所述待測(cè)樣品的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié);探測(cè)器,用于監(jiān)測(cè)樣品的發(fā)光強(qiáng)度;透光窗片,用于透光和防止輻射泄露;防輻射塞,所述防輻射塞用于防止輻射泄露和遮光。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型公開了一種射線誘導(dǎo)熱釋光特性測(cè)量裝置,屬于光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
部分材料在受射線如X、γ射線等射線輻照時(shí)會(huì)產(chǎn)生缺陷中心,缺陷中心捕獲電子后,在升溫時(shí)會(huì)因熱激活導(dǎo)致陷阱中的電子緩慢釋放并與空穴結(jié)合發(fā)光或?qū)⒛芰哭D(zhuǎn)移給敏化中心發(fā)光,這種現(xiàn)象被稱作熱釋光。根據(jù)熱釋光的強(qiáng)度可以對(duì)輻照劑量進(jìn)行測(cè)定,也可以根據(jù)熱釋光的光譜鑒別發(fā)光離子,還可以通過對(duì)不同溫度下熱釋光光強(qiáng)、波長(zhǎng)和峰形的分析獲得材料中陷阱能級(jí)及其分布的信息。
現(xiàn)有的射線誘導(dǎo)熱釋光特性測(cè)量裝置,主要采用X射線誘導(dǎo)熱釋光并用于材料的輻射性能研究,如材料的閃爍性能研究,因需要對(duì)X射線進(jìn)行防護(hù),一般體積偏大,難以擴(kuò)展,尤其是因體積偏大難以放在光譜儀樣品倉或暗室中與光譜儀聯(lián)用。有必要設(shè)計(jì)出一種射線誘導(dǎo)熱釋光特性測(cè)量裝置,通過更好的擴(kuò)展和通用性改進(jìn),為熱釋光材料的基礎(chǔ)和應(yīng)用研發(fā)提供更靈活的工具。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型公開了一種射線誘導(dǎo)熱釋光特性測(cè)量裝置,兼具通用性和擴(kuò)展性,且可放在光譜儀樣品倉或暗室中與光譜儀聯(lián)用。所述裝置包括:樣品箱,所述樣品箱由六個(gè)壁裝配而成,包括頂壁、底壁和四個(gè)側(cè)壁,所述樣品箱的除底壁以外的其余壁至少有兩個(gè)上設(shè)有裝配孔;射線源,用于產(chǎn)生射線,所述射線源裝配在任意一個(gè)所述裝配孔上,包括原子源、電子源、離子源、X射線源或γ射線源;變溫臺(tái),所述變溫臺(tái)與所述樣品箱的底壁連接,用于對(duì)所述待測(cè)樣品的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié);探測(cè)器,所述探測(cè)器用于監(jiān)測(cè)樣品的發(fā)光強(qiáng)度,裝配在除裝配所述射線源的裝配孔之外的一個(gè)其余裝配孔上,當(dāng)樣品箱上設(shè)置的除裝配所述射線源的裝配孔之外的其余裝配孔為至少兩個(gè)時(shí),所述探測(cè)器裝配在任意一個(gè)除裝配所述射線源的裝配孔之外的其余裝配孔上,且所述探測(cè)器內(nèi)側(cè)裝配透光窗片。
可選的,當(dāng)所述樣品箱上設(shè)置除裝配所述射線源和所述探測(cè)器的裝配孔之外的其余裝配孔時(shí),在除裝配所述射線源和所述探測(cè)器的裝配孔之外的其余裝配孔上裝配所述防輻射塞,所述防輻射塞用于防止輻射泄露和遮光。
可選的,當(dāng)所述樣品箱上設(shè)置除裝配所述射線源和所述探測(cè)器的裝配孔之外的其余裝配孔時(shí),在除裝配所述射線源和所述探測(cè)器的裝配孔之外的至少一個(gè)其余裝配孔上裝配所述透光窗片;或所述透光窗片替代除裝配所述射線源的壁、裝配所述探測(cè)器的壁和底壁以外的至少一個(gè)其余壁裝配在樣品箱上;所述透光窗片用于防輻射和透光,樣品在所述射線激發(fā)下發(fā)出的光透過所述透光窗片出射;當(dāng)所述樣品箱的除底壁以外的其余壁上設(shè)有除裝配所述射線源和所述透光窗片的裝配孔之外的其余裝配孔時(shí),在除裝配所述射線源和所述透光窗片之外的其余裝配孔上裝配防輻射塞,所述防輻射塞用于防止輻射泄露和遮光。
可選的,所述射線源為α射線源、β射線源、γ射線源和X射線源。
可選的,所述裝置還包括光纖轉(zhuǎn)接組件,當(dāng)所述樣品箱上設(shè)有裝配所述透光窗片的裝配孔時(shí),所述光纖轉(zhuǎn)接組件替代所述透光窗片裝配在至少一個(gè)裝配所述透光窗片的裝配孔上,且所述光纖轉(zhuǎn)接組件與所述探測(cè)器裝配在不同的裝配孔上。
可選的,所述透光窗片材質(zhì)為鉛玻璃、氟化鋇、氟化鋰、氟化鈣、氟化鎂中任意一種。
可選的,所述裝置還包括升降支架,所述升降支架位于所述樣品箱的底部,用于調(diào)節(jié)所述樣品箱在豎直方向上的位置,所述變溫臺(tái)設(shè)置在所述升降支架和所述樣品箱之間,所述升降支架還用于調(diào)節(jié)所述變溫臺(tái)在豎直方向上的位置。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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