[實用新型]一種新型半導體激光器測試裝置

有效

• 申請號: 202020571750.5
• 申請日: 2020-04-14
• 公開（公告）號: CN211784208U
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發明（設計）人: 李艷青;李飛;程世超;黃寧博;李程;侯作為
• 申請（專利權）人: 河南仕佳信息技術研究院有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型提供了一種新型半導體激光器測試裝置，包括測試插座孔，Z軸頂緊旋鈕，X軸調節旋鈕，被測試激光器，Y軸調節部件，電路板，電路插座，光路測試用光纖，光參數測試儀；所述電路插座插裝在測試插座孔內；所述被測試激光器的插針腳穿過測試插座孔插在電路插座的針孔內，形成與電路板的電路接觸連接；所述底座的前端面具有Z軸頂緊旋鈕；所述底座的右端面前部具有X軸調節旋鈕；所述Y軸調節部件的底端位于底座槽口內；所述光參數測試儀的測試輸入端與光路測試用光纖及光纖陶瓷插芯的芯管里的光纖光路相通。本實用新型達到了提高半導體激光器測試效率，提高了光參數測試精度和準確度，使用效果良好。

技術領域

本實用新型涉及半導體激光器測試的技術領域，尤其涉及了一種新型半導體激光器測試裝置。

背景技術

現有的半導體激光器測試一般為人工對準測試方式，測試效率低，光參數測試精度和準確度低，無法滿足大批量產品的生產要求。

現有的半導體激光器測試，如何提高測試效率，提高光參數測試精度和準確度，滿足批量半導體激光器產品的生產要求，這是我們需要解決的問題。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種新型半導體激光器測試裝置，解決上述背景技術中提出的問題。

為解決上述提到的需解決的問題，本實用新型提供了以下技術方案：一種新型半導體激光器測試裝置，包括測試插座孔，底座，Z軸頂緊旋鈕，X軸調節旋鈕，被測試激光器，Y軸調節部件，銅散熱片，電路板，電路插座，光路測試用光纖，擺臂光纖陶瓷插芯，光參數測試儀；所述電路板通過電路板固定螺栓安裝在底座的后部；所述電路插座位于電路板的前端；所述電路插座通過電路插座固定塊和電路插座固定塊螺栓固定在底座中部；所述銅散熱片通過銅散熱片固定螺栓固定于底座偏前位置；所述測試插座孔為貫通孔位于銅散熱片中部；電路插座插裝在測試插座孔內；所述被測試激光器的插針腳穿過測試插座孔插在電路插座的針孔內，形成與電路板的電路接觸連接；所述被測試激光器的頂端通過激光器壓環，激光器壓塊，激光器壓塊擰緊旋鈕頂壓在銅散熱片的測試插座孔的前部；所述底座的前部具有底座槽口；所述底座的前端面具有Z軸頂緊旋鈕；所述底座的右端面前部具有X軸調節旋鈕；所述 X軸調節旋鈕的頂部卡頭，旋轉穿過底座右端面螺紋孔與Y軸調節部件底座的右端C型卡槽可轉動連接；所述Y軸調節部件的底端位于底座槽口內；所述光參數測試儀通過光路測試用光纖與擺臂光纖陶瓷插芯連接；所述光路測試用光纖穿出光纖陶瓷插芯的芯管端面并齊平；所述光參數測試儀的測試輸入端與光路測試用光纖及光纖陶瓷插芯的芯管里的光纖光路相通。

進一步地，所述Y軸調節部件包括有Y軸調節部件底座，Y軸調節部件立柱，Y軸調節塊， Y軸調節塊壓蓋，Y軸調節旋鈕，Y軸調節部件擺臂，擺臂光纖陶瓷插座頂絲，擺臂光纖陶瓷插座；所述Y軸調節部件底座位于底座槽口內，可前后左右滑動；所述Y軸調節部件立柱底部插頭插入到Y軸調節部件底座的插口內；所述Y軸調節部件立柱底部和Y軸調節部件底座通過Y軸調節部件立柱固定螺栓7-1固定；所述Y軸調節旋鈕旋轉穿過Y軸調節塊壓蓋頂部的螺紋孔后，Y軸調節旋鈕的頂端卡頭，卡在Y軸調節塊的頂部的內孔環形卡槽內可轉動連接；擺臂擰緊螺栓穿過Y軸調節塊中部的橫向孔后，插入并固定到Y軸調節部件擺臂中部的橫向孔中；所述Y軸調節塊安裝在Y軸調節塊壓蓋的下部內孔和Y軸調節部件立柱的上部內孔之間；所述Y軸調節塊壓蓋的下部和Y軸調節部件立柱的上部通過Y軸調節塊壓蓋螺栓連接固定；所述擺臂光纖陶瓷插座安置于Y軸調節部件擺臂的下端的縱向孔內；所述擺臂光纖陶瓷插座頂絲旋轉穿過Y軸調節部件擺臂的左側下端橫向螺絲孔，頂住擺臂光纖陶瓷插座于 Y軸調節部件擺臂的下端的縱向孔內，所述擺臂光纖陶瓷插芯插裝于擺臂光纖陶瓷插座內。