[實用新型]一種天線測試設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202020532844.1 | 申請日: | 2020-04-10 |
| 公開(公告)號: | CN212622828U | 公開(公告)日: | 2021-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄒毅;韓振宇;蘇永紅;劉蔣軍;韋進(jìn);熊皓 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市中天迅通信技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人: | 曾文洪 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市前海深港合作區(qū)前灣一路1號A棟201室(入駐深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 天線 測試 設(shè)備 | ||
本實用新型涉及天線測試技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種天線測試設(shè)備,包括第一測試模板,設(shè)有測試耦合片;以及第二測試模板,用于承載具有天線的金屬殼體,第二測試模板可移動以帶動金屬殼體靠近和遠(yuǎn)離測試耦合片,測試耦合片于測試時與天線間隙配合;本實用新型提供的天線測試設(shè)備具有以下優(yōu)點:首先,第一測試模板上設(shè)有測試耦合片,利用天線的耦合饋電原理,測試耦合片不需要與金屬殼體接觸即可測試天線性能,其結(jié)構(gòu)簡單;其次,測試耦合片采用非接觸式進(jìn)行檢測,提高了測試效率;再次,由于無需設(shè)置額外的氣缸,避免造成設(shè)計的局限性;最后,基于天線的耦合饋電原理,一個測試耦合片可以同時測量多個天線,即節(jié)約了天線測試設(shè)備的制造成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及天線測試技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說,是涉及一種天線測試設(shè)備。
背景技術(shù)
目前無線終端由于外形及天線的影響,必須采用金屬殼作為天線的一部分,以金屬殼體邊緣開槽的形式來充當(dāng)天線,通常有2/3/4G天線和WIFI//GPS天線,隨著5G天線的出現(xiàn),金屬殼體上天線的數(shù)量越來越多。因此在天線測試過程中,天線測試點會出現(xiàn)在金屬殼體的正面以及側(cè)面。現(xiàn)有技術(shù)中利用測試探針接觸金屬殼體的表面進(jìn)行測試,利用一個氣缸驅(qū)動測試探針可以實現(xiàn)同一表面上的天線測試點的測試,如果金屬殼體具有正面的測試點以及帶有側(cè)面或多個側(cè)面天線測試點的話,需增加對應(yīng)方向以及數(shù)量的氣缸來實現(xiàn)測試探針的移動以進(jìn)行天線性能的測試,其增加了測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)復(fù)雜性。而測試時間也會相應(yīng)地增加一個或者多個氣缸的工作周期,即增加了測試時間。再者,如果兩個不同方向上的表面的天線測試點距離太近,由于空間上的問題,氣缸加測試探針的形式可能會無法實現(xiàn)性能測試,即提高了測試的局限性。
另外,測試點的測試探針都是通過測試設(shè)備的連接座連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀上,通過網(wǎng)絡(luò)分析儀的駐波比的一致性來判斷金屬殼體制作是否通過測試,而且每個天線必須連接網(wǎng)絡(luò)分析儀的一個端口,當(dāng)天線數(shù)量越多,需要的網(wǎng)絡(luò)分析儀越多,進(jìn)而導(dǎo)致測試設(shè)備的成本的提高。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種天線測試設(shè)備,以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的結(jié)構(gòu)復(fù)雜、測試時間長、測試存在局限以及制造成本高的技術(shù)問題。
為實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用的技術(shù)方案是一種天線測試設(shè)備,包括:
第一測試模板,設(shè)有測試耦合片;以及
第二測試模板,用于承載具有天線的金屬殼體,所述第二測試模板可移動以帶動所述金屬殼體靠近和遠(yuǎn)離所述測試耦合片,所述測試耦合片于測試時與所述天線間隙配合。
在一個實施例中,所述金屬殼體具有正面和側(cè)面,所述金屬殼體的正面正對著所述第一測試模板,所述天線位于所述金屬殼體的側(cè)面,所述測試耦合片于測試時與所述金屬殼體的側(cè)面正對。
在一個實施例中,所述第一測試模板還設(shè)有測試探針,所述測試探針于測試時抵頂于所述金屬殼體的正面。
在一個實施例中,所述第一測試模板設(shè)有朝所述第二測試模板突出的限位塊,所述限位塊的高度大于所述金屬殼體的厚度。
在一個實施例中,所述第一測試模板上設(shè)有多個導(dǎo)向桿,所述導(dǎo)向桿穿設(shè)于所述第二測試模板上,所述第二測試模板沿所述導(dǎo)向桿的長度方向作靠近和遠(yuǎn)離所述第一測試模板的移動。
在一個實施例中,還包括連接所述第二測試模板的托舉組件,所述托舉組件驅(qū)動所述第二測試模板移動。
在一個實施例中,所述第二測試模板的朝向所述第一測試模板的側(cè)面設(shè)有定位凸臺,所述定位凸臺的形狀配合于所述金屬殼體的內(nèi)腔的形狀。
在一個實施例中,所述金屬殼體具有至少兩個相鄰的所述天線,一個所述測試耦合片于測試時覆蓋至少兩個相鄰的所述天線。
在一個實施例中,所述測試耦合片為折彎體,所述折彎體的長度方向沿所述金屬殼體的邊角部分延伸。
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