[實用新型]一種雷達物位計

有效

• 申請號: 202020461524.1
• 申請日: 2020-04-01
• 公開（公告）號: CN211824622U
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 薛志勇
• 申請（專利權）人: 北京精波儀表有限公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 于妙卓

本實用新型涉及物位測量的技術領域，具體涉及一種雷達物位計，其包括測量組件以及包覆于所述測量組件外側的外殼，所述外殼與所述測量組件之間具有第一密閉空腔，所述第一密閉空腔內灌封有絕緣膠體。通過設置外殼，對測量組件起到了保護作用，不會將測量組件裸露在腐蝕性氣體或液體中，有效的將粉塵和蒸汽等與測量組件隔離，保證了雷達物位計在惡劣的工作環境中也能準確可靠的正常測量，延長了雷達物位計的使用壽命。同時，通過第一密閉空腔內灌封絕緣膠體，進一步阻斷了腐蝕性液體或氣體，使其無法與測量組件相接觸。絕緣橡膠對測量組件起到了固定的作用，避免其晃動，使得雷達物位計整體結構安全可靠。

技術領域

本實用新型涉及物位測量的技術領域，具體涉及一種雷達物位計。

背景技術

雷達物位計是一種非接觸式物位測量裝置，主要由天線、傳感器、電路組件等部件構成，其工作原理是：雷達物位計通過天線發射出極窄的微波脈沖，而該微波脈沖會在空間中傳播，當遇到被測介質表面時，該微波脈沖的一部分能量會被反射回來，并被同一天線接收；發射脈沖和接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比；通過識別發射脈沖與接收脈沖的時間間隔就可以計算出天線到被測介質表面的距離，從而實現物位測量。由雷達物位計的工作原理可知，天線是發射和接收電磁波的重要部件，直接決定了雷達物位計能否正常工作。

在測量過程中，雷達物位計會受到工作環境的很大影響，例如：當被測介質是具有揮發凝結特性的介質(例如：高溫下產生的水蒸氣)、具有粉塵特性的介質(例如：石灰粉)或者具有腐蝕特性的介質(例如：硫酸、鹽酸、氫氧化鈉等)時，如果這些介質附著、覆蓋或腐蝕天線，那么電磁波的傳輸路徑就會受到阻礙或破壞，從而會導致測量結果出現誤差，甚至無法正常測量。因此，雷達物位計上需要設置一定的防護設施來應對這些惡劣的工作環境。

在現有技術中，水滴形雷達天線的外形采用便于液體滑落的弧線形設計，這種設計不僅便于液體滑落，同時不易留有塵土雜質，使雷達物位計在測量時不會受到惡劣工作環境的影響。

如圖1所示，水滴形雷達物位計包括外表殼1’、傳感器2’、儀表法蘭3’、導波管4’、固定片5’以及水滴形天線6’。其中外表殼1’固定設置在傳感器2’上，儀表法蘭3’固定通過螺紋與傳感器2’連接，儀表法蘭3’下方固定設置導波管4’，導波管4’下方固定設有固定片5’，固定片5’通過螺栓與水滴形天線6’連接。水滴形天線6’能夠將雷達物位計的各個部件與塵土、水蒸氣、腐蝕性液體和腐蝕性氣體有效的隔離，從而保證雷達物位計在惡劣的工作環境中也能夠準確可靠地正常測量，延長了雷達物位計的使用壽命。

但是導波管4’和固定片5’都是不銹鋼材質，雖然能耐受一定的酸、堿腐蝕，但是遇到強酸、強堿等不銹鋼不耐受的液體或氣體時，水滴形雷達物位計的壽命會大大減小，一旦固定片5’被腐蝕，就會導致水滴形雷達物位計測量不準確。綜上可見，現有水滴形雷達物位計的導波管4’和固定片5’上的防護措施還存在種種弊端，而且由于現有水滴形雷達物位計的導波管4’上方的部件均暴露在空氣中，因此現有水滴形雷達物位計無法應用在腐蝕性物質蒸發到空氣中的場合，否則這些蒸發到空氣中的腐蝕性物質會腐蝕位于導波管上方的部件，使水滴形雷達物位計無法正常工作。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種雷達物位計，能夠將現有水滴形雷達物位計的各個部件與塵土、水蒸氣、腐蝕性液體和腐蝕性氣體有效隔離，從而保證了雷達物位計在惡劣工作環境中也能準確可靠地正常測量。

為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案是提供一種雷達物位計，包括測量組件以及包覆于所述測量組件外側的外殼，所述外殼與所述測量組件之間具有第一密閉空腔，所述第一密閉空腔內灌封有絕緣膠體。

進一步地，所述測量組件包括天線，所述天線的頂端外側壁設置有第一連接凸起，所述外殼的底端內側壁設有與所述第一連接凸起相連接的第一連接槽。

進一步地，所述第一連接凸起的外緣和所述第一連接槽的內緣均形成有連接螺紋，且所述第一連接凸起和所述第一連接槽螺紋連接。