[實用新型]鋰離子電池厚度測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202020457513.6 | 申請日: | 2020-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN212274813U | 公開(公告)日: | 2021-01-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉安彪;王涌;許波 | 申請(專利權(quán))人: | 東莞市鴻德電池有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/06 | 分類號: | G01B5/06 |
| 代理公司: | 深圳市瑞方達知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44314 | 代理人: | 張秋紅 |
| 地址: | 523000 廣東省東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鋰離子電池 厚度 測試 裝置 | ||
本實用新型公開的鋰離子電池厚度測試裝置,包括底座以及設(shè)于所述底座上的厚度測試臺,所述厚度測試臺包括與所述底座固定連接的第一測試機構(gòu)以及與所述底座活動連接的第二測試機構(gòu),所述第一測試機構(gòu)包括第一測試面,所述第二測試機構(gòu)包括與所述第一測試面平行設(shè)置的第二測試面,所述第一測試面和所述第二測試面至少部分區(qū)域相對設(shè)置,并在相對設(shè)置的所述第一測試面和所述第二測試面之間形成測試區(qū)域。本實用新型通過設(shè)定第一測試機構(gòu)和第二測試機構(gòu)之間的距離作為鋰離子電池的合格厚度,可對鋰離子電池厚度進行批量測試,接觸面積大,能夠測試出鋰離子電池的整體厚度,避免漏檢,避免次品混入合格品的同時大幅提高生產(chǎn)效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及鋰離子電池質(zhì)量檢測領(lǐng)域,尤其涉及一種鋰離子電池厚度測試裝置。
背景技術(shù)
在鋰離子電池制作完成后,通常需要對其厚度進行測試,防止由于鼓包使得厚度增大的次品混入合格品中,目前鋰電行業(yè)通常使用卡尺對鋰離子電池進行厚度測試,但由于卡尺的卡接面積較小,只能檢測到鋰離子電池的局部厚度,無法完整測量鋰離子電池的整體厚度,使得在檢測中容易出現(xiàn)漏檢的現(xiàn)象,且使用卡尺測試速度較慢,效率過低,使得鋰離子電池從生產(chǎn)到出廠的時間較長。
實用新型內(nèi)容
本實用新型要解決的技術(shù)問題在于,針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種鋰離子電池厚度測試裝置。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
鋰離子電池厚度測試裝置,包括底座以及設(shè)于所述底座上的厚度測試臺,所述厚度測試臺包括與所述底座固定連接的第一測試機構(gòu)以及與所述底座活動連接的第二測試機構(gòu),所述第一測試機構(gòu)包括第一測試面,所述第二測試機構(gòu)包括與所述第一測試面平行設(shè)置的第二測試面,所述第一測試面和所述第二測試面至少部分區(qū)域相對設(shè)置,至少部分相對設(shè)置的所述第一測試面和所述第二測試面之間形成測試區(qū)域。
優(yōu)選地,所述第一測試面和所述第二測試面均與所述底座垂直設(shè)置;
或者,所述第一測試面和所述第二測試面均與所述底座平行設(shè)置;
或者,所述第一測試面和所述第二測試面均與所述底座傾斜設(shè)置;
所述第二測試機構(gòu)的運動方向與所述第一測試面和/或所述第二測試面的設(shè)置方向垂直。
優(yōu)選地,所述第二測試機構(gòu)與所述底座之間滑動連接,所述底座上設(shè)有至少一個與所述第二測試機構(gòu)滑動連接的滑軌,所述第二測試機構(gòu)包括在所述滑軌上配合滑動的滑臺;
或者,所述第二測試機構(gòu)與所述底座可拆卸連接,所述底座上設(shè)有至少一組限位部,所述第二測試機構(gòu)上設(shè)有與所述限位部可拆卸連接的限位件,所述限位件與所述限位部通過插接、卡接或螺接可拆卸連接。
優(yōu)選地,所述鋰離子電池厚度測試裝置還包括用于顯示所述測試區(qū)域?qū)挾鹊目ǔ撸龅谝粶y試機構(gòu)與所述卡尺固定連接,所述第二測試機構(gòu)與所述卡尺活動連接。
優(yōu)選地,所述第一測試面和所述第二測試面分別與所述卡尺垂直設(shè)置,所述第二測試機構(gòu)還包括套設(shè)在所述卡尺上的卡尺套,所述卡尺套的一端與所述第二測試面齊平。
優(yōu)選地,所述第二測試機構(gòu)通過固定件與所述卡尺抵接、卡接或插接固定。
優(yōu)選地,所述第一測試機構(gòu)與所述底座通過至少一個第一立柱固定連接,所述第二測試機構(gòu)與所述滑臺或所述限位件通過至少一個第二立柱固定連接。
優(yōu)選地,所述第一測試機構(gòu)還包括連接所述第一立柱和所述第一測試面的第一連接件,所述第一連接件和所述第一立柱剛性固定連接;
所述第二測試機構(gòu)還包括連接所述第二立柱和所述第二測試面的第二連接件,所述第二連接件與所述第二立柱剛性固定連接。
優(yōu)選地,所述卡尺與所述底座通過至少一個第三立柱固定連接。
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