[實用新型]邁克爾遜干涉儀測量氣體密度分布的裝置有效
| 申請號： | 202020452940.5 | 申請日： | 2020-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN211877765U | 公開（公告）日： | 2020-11-06 |
| 發明（設計）人： | 叢曉燕;劉海濤;韓岳 | 申請（專利權）人： | 叢曉燕 |
| 主分類號： | G01N21/45 | 分類號： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陸飛 |
| 地址： | 271018 *** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 邁克 干涉儀 測量 氣體 密度 分布 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種邁克爾遜干涉儀測量氣體密度分布的裝置，其特征在于，包括：單色平行光源、半反半透鏡、兩塊平面反射鏡、圖像采集模塊、圖像處理模塊；其中：
所述單色平行光源，用于發射單色平行光；
所述半反半透鏡，用于將光源發射的一束單色平行光分成兩束光強相等且成90°的單色平行光；
所述兩塊平面反射鏡，分設在半反半透鏡分成兩束單色平行光的光路上，分別用于反射兩束單色平行光，兩塊平面反射鏡與半反半透鏡間的距離相等；其中一塊平面反射鏡與半反半透鏡之間設置為檢測區間；兩塊平面反射鏡反射回來的兩束光，經過半反半透鏡透射及反射，進入圖像采集模塊；
所述圖像采集模塊，用于拍攝記錄兩束單色平行光疊加所形成的干涉條紋；
所述圖像處理模塊，用于疊加比對單色平行光分別穿過密度均勻氣體與密度不均勻氣體后所形成的干涉條紋，并繪制出密度不均勻氣體的等密度線。
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