[實用新型]粒度分析儀及系統

有效

• 申請號: 202020410778.0
• 申請日: 2020-03-26
• 公開（公告）號: CN212159469U
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 黃永良
• 申請（專利權）人: 珠海歐美克儀器有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N35/10
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 陳慧華

本實用新型公開了一種粒度分析儀及系統，粒度分析儀包括：主機、進樣器及進樣控制器。主機用于測量樣品粒徑及樣品的遮光比。進樣器與主機的測試窗口連接，用于向主機中運送樣品。進樣控制器分別與主機及所述進樣器電性連接，用于接收主機反饋回來的樣品的遮光比，并根據遮光比控制進樣器的工作強度。根據上述技術方案的粒度分析儀，以測得的樣品的采樣遮光比作為反饋值反饋給進樣控制器，并根據采樣遮光比與設定遮光比之間的差值來對進樣器的工作強度進行實時調整，使進樣器的進樣更加穩定，且可以響應外部環境的變化。

技術領域

本實用新型涉及粒度分析設備領域，特別涉及一種粒度分析儀及粒度分析系統。

背景技術

粒度分析儀用于測量粒度的粒徑分布，多數采用激光衍射的方法實現測量，樣品的遮光比對數據的準確性有很大的影響，需要控制進樣量在一個合適的值，以獲得較好的測量效果。

現有的干法進樣器往往采用振動的方式進樣，進樣器的控制采用開環控制，進樣過程不穩定，導致測量結果會產生波動。

實用新型內容

本實用新型旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本實用新型提出一種粒度分析儀，采用粒度分析儀采集到的樣品遮光比作為反饋行程閉環控制，可以使進樣器穩定進樣。

本實用新型還提出一種包括該粒度分析儀的粒度分析系統。

第一方面，根據本實用新型的實施例的粒度分析儀，包括：主機：用于測量樣品粒徑及樣品的遮光比；進樣器，與所述主機的測試窗口連接，用于向所述主機中運送樣品；進樣控制器，分別與所述主機及所述進樣器電性連接，用于接收所述主機反饋回來的樣品的遮光比，并根據所述遮光比控制所述進樣器的工作強度。

根據本實用新型實施例的粒度分析儀，至少具有如下有益效果：主機、進樣器和進樣控制器形成閉合控制回路，根據樣品遮光比的反饋值反饋給進樣控制器，進樣控制器再根據反饋的樣品遮光比與預先設定的設定遮光比值比較的差值控制進樣器的工作強度，進樣器的工作強度又會影響落入測試窗口的樣品量進而影響樣品的遮光比。重復上述過程，最終會使樣品遮光比逐漸與設定遮光比相等，使進樣器可以穩定地為主機提供樣品，使測量結果沒有過大的波動。

根據本實用新型的一些實施例，所述進樣器包括：下料槽，用于盛放樣品，與所述主機的測試窗口連接；震動器，與所述下料槽連接，用于驅動所述下料槽振動，使下料槽內的樣品落入到所述測試窗口中。

根據本實用新型的一些實施例，所述進樣器還包括陀螺儀，所述陀螺儀設置于所述下料槽上，所述陀螺儀與所述進樣控制器電性連接，用于檢測下料槽的震動強度。

根據本實用新型的一些實施例，所述震動器為壓電陶瓷。

第二方面，根據本實用新型實施例的粒度分析系統，包括：根據本實用新型第一方面的實施例的粒度分析儀；終端，與所述粒度分析儀電性連接，用于顯示及設置所述粒度分析儀的參數及信息。

根據本實用新型實施例的粒度分析系統，至少具有如下有益效果：具有本實用新型第一方面實施例的粒度分析儀，可以通過終端設定合適的遮光比，并獲得較為準確的樣品的粒徑分析結果。

根據本實用新型的一些實施例，還包括：吸塵裝置，分別與所述主機與所述進樣器電性連接，用于清潔所述主機的測試窗口及所述進樣器的下料槽；吸塵裝置控制盒，與所述吸塵裝置電性連接，用于控制所述吸塵裝置。

根據本實用新型的一些實施例，還包括：空氣壓縮機，所述空氣壓縮機的出口與所述主機的測試窗口或者所述進樣器的下料槽連接，所述空氣壓縮機的出口處還設有過濾閥。

本實用新型的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本實用新型的實踐了解到。

附圖說明