[實用新型]質譜接口結構及質譜分析儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202020314266.4 | 申請日： | 2020-03-13 |
| 公開（公告）號： | CN211605099U | 公開（公告）日： | 2020-09-29 |
| 發(fā)明（設計）人： | 徐偉;袁濤 | 申請（專利權）人： | 深圳市卓睿通信技術有限公司 |
| 主分類號： | H01J49/16 | 分類號： | H01J49/16;H01J49/40;G01N27/62 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518100 廣東省深圳市龍華*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 接口 結構 譜分析 | ||
【權利要求書】：
1.一種質譜接口結構，其特征在于，包括金屬電極、電噴霧電離噴針、金屬板以及分析器，所述金屬電極連接于所述電噴霧電離噴針的尾端，所述電噴霧電離噴針的首端具有噴口且正對所述金屬板設置，所述金屬電極和所述金屬板具有正電壓差，以使所述電噴霧電離噴針的離子由所述噴口噴出并產(chǎn)生阻斷電流脈沖，所述電噴霧電離噴針與所述分析器電性連接，以使所述分析器分析所述阻斷電流脈沖并得出所述離子的大小。
2.如權利要求1所述的質譜接口結構，其特征在于：所述噴口的直徑為2nm至2μm。
3.如權利要求1所述的質譜接口結構，其特征在于：所述噴口的直徑為10nm至100nm。
4.如權利要求1所述的質譜接口結構，其特征在于：所述離子為橢球型，所述離子的長軸為a，所述離子的短軸為b。
5.如權利要求1所述的質譜接口結構，其特征在于：所述金屬電極和所述金屬板之間的電壓差為300V至1000V。
6.如權利要求1所述的質譜接口結構，其特征在于：所述金屬板和所述分析器之間具有電流放大器。
7.質譜分析儀，其特征在于：包括權利要求1-6任一項所述的質譜接口結構，還包括質譜分析結構。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市卓睿通信技術有限公司，未經(jīng)深圳市卓睿通信技術有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202020314266.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
