[實用新型]一種顯微鏡點擴散函數的測量設備

有效

• 申請號: 202020256880.X
• 申請日: 2020-03-04
• 公開（公告）號: CN211927237U
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 毛帥;王軍濤
• 申請（專利權）人: 山東理工大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 安衛靜

1.一種顯微鏡點擴散函數的測量設備，其特征在于，包括：激光發射裝置，點擴散函數校準裝置，位移臺和終端設備，其中，所述點擴散函數校準裝置設置在所述位移臺上，所述終端設備與分別所述激光發射裝置、所述點擴散函數校準裝置和所述位移臺相連接；

所述激光發射裝置，用于以不同空間姿態向所述點擴散函數校準裝置初始線偏振光束，以及檢測目標線偏振光束的縱向高度值，其中，所述目標線偏振光束為所述線偏振光線經過所述點擴散函數校準裝置處理之后得到的線偏振光束；

所述點擴散函數校準裝置，用于檢測所述初始線偏振光束的方向向量，以及所述初始線偏振光束形成的光斑的位置坐標；

所述位移臺，用于調整所述點擴散函數校準裝置的空間姿態；

所述終端設備，用于根據所述縱向高度值、所述方向向量和所述光斑的位置坐標，確定出垂直于顯微鏡的光軸的各個高度的物面。

2.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述激光發射裝置，包括：光纖激光頭，第一調節架，平面分光鏡，第一探測器和第二調節架，其中，所述光纖激光頭與所述第一調節架相連接，所述平面分光鏡和所述第一探測器設置在所述第二調節架上；

所述光纖激光頭，用于發射所述初始線偏振光束；

所述第一調節架，用于調節所述光纖激光頭的空間姿態；

所述平面分光鏡，用于對所述目標線偏振光輸進行分光處理，得到第一子線偏振光束和第二子線偏振光束；

所述第一探測器，用于檢測所述第一子線偏振光束的縱向高度值，并所述第一子線偏振光束的縱向高度值確定為所述目標線偏振光束的縱向高度值；

所述第二調節架，用于調整所述平面分光鏡和所述第一探測器的空間姿態。

3.根據權利要求2所述的設備，其特征在于，所述點擴散函數校準裝置，包括：雙光斑光束向量測量裝置，折光鏡，第一鏡面組，第一角錐，第一波片和第二鏡面組，其中，所述折光鏡的空間姿態為固定姿態，所述折光鏡設置在所述雙光斑光束向量測量裝置與所述第一鏡面組之間，所述第一鏡面組設置在所述第二鏡面組和所述折光鏡之間，所述第一波片設置在所述第一鏡面組的側面；

所述雙光斑光束向量測量裝置，用于測量所述初始線偏振光束的方向向量，以及所述初始線偏振光束形成的光斑的位置坐標，以及用于檢測所述第二子線偏振光束的方向向量，以及所述第二子線偏振光束形成的光斑的位置坐標，以及對所述初始線偏振光束進行折光處理，得到中間線偏振光束；

所述折光鏡，用于將所述初始線偏振光束折射至所述雙光斑光束向量測量裝置；

所述第一鏡面組，用于將所述第一子線偏振光束折射至所述雙光斑光束向量測量裝置，以及對所述中間線偏振光束進行分光處理，得到所述目標線偏振光束和線偏振態光束線；

所述第一角錐，用于將所述目標線偏振光束折射至所述激光發射裝置；

所述第一波片，用于所述線偏振態光束線轉變為第一圓偏振光束；

所述第二鏡面組，用于接收所述目標線偏振光束，以及用于承載納米熒光顆粒，并將所述目標線偏振光束透射至所述激光發射裝置。

4.根據權利要求3所述的設備，其特征在于，所述雙光斑光束向量測量裝置包括：探測器組和第二角錐，其中，所述第二角錐設置于所述探測器組之間；

所述探測器組，用于測量所述初始線偏振光束的方向向量，以及所述初始線偏振光束形成的光斑的位置坐標，以及用于檢測所述第二子線偏振光束的方向向量；

所述第二角錐，用于對所述初始線偏振光束進行折光處理，得到所述目標線偏振光束。

5.根據權利要求4所述的設備，所述探測器組包括：第二探測器和第三探測器。

6.根據權利要求3所述的設備，其特征在于，所述第一鏡面組包括：第一分光面，第二分光面和直角斜面，其中，所述第一分光面和第二分光面之間設置有所述第一波片，所述直角斜面平行于所述雙光斑光束向量測量裝置構建的坐標系的平面坐標YZ；

所述第一分光面，用于透過所述中間線偏振光束中的線偏振態光束線；

所述第二分光面，用于對所述線偏振態光束線進行分光處理，得到所述目標線偏振光束和線偏振態光束線；

所述直角斜面，用于將所述目標線偏振光束透射至所述激光發射裝置。