[實用新型]雙面射頻測試夾具

有效

• 申請號: 202020241839.5
• 申請日: 2020-03-02
• 公開（公告）號: CN211826363U
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發明（設計）人: 林斌;張偉;詹昌吉
• 申請（專利權）人: 寧波吉品科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種雙面射頻測試夾具，涉及測試夾具的技術領域，其包括上層測試座以及下層測試座，所述下層測試座上設置有供測試件預安裝的容納槽，所述下層測試座上且位于容納槽的底部設置有與測試件的下測試點相抵觸的下層測試接口，所述下層測試座上設置有貫穿于上層測試座中的導向柱，所述上層測試座上設置有與測試件的上測試點相抵觸的上層測試接口，所述上層測試座上設置有與下層測試座可拆卸連接的緊固組件，所述緊固組件用于保持上層測試接口與測試件的上測試點以及下層測試接口與測試件的下測試點相互抵觸。本實用新型具有可以對測試件的雙面進行同時測試以提高測試效率的效果。

技術領域

本實用新型涉及測試夾具的技術領域，尤其是涉及一種雙面射頻測試夾具。

背景技術

隨著通訊技術增進則使移動版圖漸趨擴大，為求實時即地交流信息與服務，無線通訊發展遂成為全球半導體產業主流，然而無線通訊產品所必需的高頻特性必得依賴射頻集成電路(RFIC)來達成。為了保證射頻集成電路滿足產品質量要求，需要對射頻集成電路進行調節和測試。

公告號為CN110441640A的發明專利申請公開了一種測試裝置，其包括包括主體，該主體內嵌設有由導體制成的射頻微波檢測體，射頻微波檢測體內設有射頻彈性探針，射頻彈性探針的上端能與被測裝置的射頻微波信號端口接觸，射頻彈性探針的下端與射頻電纜內部導體導電連接，輔助接地彈性探針直接與射頻檢測體導電接觸；射頻檢測體的下端能與射頻電纜連接，主體包括面板和設置在面板下方的底板，射頻檢測體包括嵌設在面板內的上嵌件和嵌設在底板內的下嵌件，上嵌件和下嵌件均由導體制成；上嵌件內設有沿上下方向延伸的第一通孔，射頻彈性探針和包裹在射頻彈性探針外的絕緣套沿第一通孔的軸向插設在第一通孔內；多根輔助接地彈性探針嵌設在上嵌件內，并圍繞在包裹有絕緣套的射頻彈性探針周圍，同時多根輔助彈性探針的下端與下嵌件導電接觸。

上述中的現有技術方案存在以下缺陷：上述的測試裝置只可對單面射頻集成電路進行測試，無法測試雙面列裝焊盤或元器件的電路板或封裝芯片，當上述的測試裝置對雙面板進行測試時，有些需要對電路板的兩面進行分別測試，測試效率低下，對于雙面同時協同工作的電路板甚至無法進行測試，所以急需一種可以對電路板的雙面進行同時測試的測試裝置。

實用新型內容

針對現有技術存在的不足，本實用新型的目的是提供一種可以同時對電路板或封裝芯片的雙面進行測試的雙面射頻測試夾具。

本實用新型的上述實用新型目的是通過以下技術方案得以實現的：

一種雙面射頻測試夾具，包括上層測試座以及下層測試座，所述下層測試座上設置有供測試件預安裝的容納槽，所述下層測試座上且位于容納槽的底部設置有與測試件的下測試點相抵觸的下層測試接口，所述下層測試座上設置有貫穿于上層測試座中的導向柱，所述上層測試座上設置有與測試件的上測試點相抵觸的上層測試接口，所述上層測試座上設置有與下層測試座可拆卸連接的緊固組件，所述緊固組件用于保持上層測試接口與測試件的上測試點以及下層測試接口與測試件的下測試點相互抵觸。

通過采用上述技術方案，通過將測試件放置在下層測試座上的容納槽中，并將上層測試座沿導向柱朝下層測試座下降，使下層測試接口分別與測試件的下測試點相互抵觸，并使上層測試接口與測試件的上測試點相互抵觸，以此達到對測試件的雙面進行同步測試的目的，保證了被測對象的完整工作性，同時導向柱的設置保證了上層測試座與下層測試座的定位準確性并提供方向性和穩定性，確保上層測試座的測試點位置不會偏移測試件上的測試點。

本實用新型在一較佳示例中可以進一步配置為：所述緊固組件包括穿設于上層測試座上的連接桿，所述連接桿靠近下層測試座的一端設置有外螺紋部，所述下層測試座上設置有供連接桿的外螺紋部螺紋連接的螺紋孔，所述連接桿遠離下層測試座的一端設置有限位部。