[實用新型]一種激光器的高低溫性能的測試篩選系統

有效

• 申請號: 202020241733.5
• 申請日: 2020-03-03
• 公開（公告）號: CN211352197U
• 公開（公告）日: 2020-08-25
• 發明（設計）人: 李志超;李楊;鹿思遠;潘禹岑
• 申請（專利權）人: 遼寧優迅科技有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073;G08C19/00
• 代理公司: 大連理工大學專利中心 21200
• 代理人: 隋秀文;溫福雪

本實用新型屬于光通信技術領域，具體涉及一種激光器的高低溫性能的測試篩選系統。將待測激光器組裝焊接在光模塊上，通過金手指將待測激光器模塊插裝于光模塊測試板的連接插口，放入高低溫箱內模擬測試環境的溫度，進行測試；光模塊測試板的發射端與誤碼儀的發射端連接，由穩壓電源供電；待測激光器模塊通過分路器，分別與光功率計和波長計連接；通過光功率計和波長計分別實時監測激光器在常溫及高低溫工作時的功率及波長的變化情況，通過穩壓電源上的電流實時變化來計算激光器在模塊上的功耗情況。本實用新型具有兼容性和擴展性，可以針對不同環境、不同封裝形式的激光器進行測試篩選，降低產品的批量不良率。

技術領域

本實用新型屬于光通信技術領域，具體涉及一種激光器的高低溫性能的測試篩選系統。

背景技術

光模塊是用于交換機與設備之間傳輸的載體，而模塊的核心性能可以說大部分就由激光器的性能決定。激光器的性能在常溫條件下測試完好，甚至十分優異；但在惡劣環境中測試時，激光器會出現產品性能不佳的問題，如高溫波長偏移、低溫時功耗超出范圍、高溫時功率不滿足要求等。在實際生產中，考慮到產能原因，激光器再生產時一般不會測試產品的高低溫性能。現有的在激光器的高低溫性能測試中，大多數廠商是直接在激光器測試時進行模擬高低溫測試，這樣做在高溫時勉強可以完成，但是在低溫測試時就會遇到產生凝結水汽導致裸露在外的電路和器件會有短路的風險。如果激光器不進行高低溫小批量驗證測試會導致不良芯片大量投產。由此引發大面積的不良品出現，從而給廠家帶來不良影響。

激光器的芯片是按批次進行生產，每個批次的芯片性能會有差異，封裝好的器件也會有繼承甚至于放大這種差異，如果每批芯片在投產之前進行一個小批量的這類篩選測試，就可以掌握這批芯片的性能對以后的投產會有很大的幫助。

實用新型內容

為解決上述存在的問題，本實用新型提出了一種激光器的高低溫性能的測試篩選系統與方法，可通過對激光器的高低溫性能進行小批量的篩選，避免大量投產不良芯片，該方法具有測試篩選結果準確，兼容性強等優點。

為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案為：

一種激光器的高低溫性能的測試篩選系統，包括誤碼儀、功率計、波長計、分路器、待測激光器模塊、光模塊測試盒、高低溫箱、穩壓電源和測試電腦。

所述的待測激光器模塊包括待測激光器和光模塊，將待測激光器組裝焊接在光模塊上，通過金手指將待測激光器模塊插裝于光模塊測試盒的連接插口；所述的光模塊測試盒放置于高低溫箱中，高低溫箱用于模擬測試環境，光模塊測試盒通過USB與電腦進行通訊連接，隨時監測待測激光器模塊的實時溫度。

所述的光模塊測試盒的發射端與誤碼儀的發射端連接；所述的穩壓電源對光模塊測試盒供電，穩壓電源位于高低溫箱外，并通過穩壓電源上的電流實時變化來計算激光器在模塊上的功耗情況；

所述的待測激光器模塊的發射端通過光纖跳線與分路器的輸入端連接，分路器的一路輸出端通過光纖跳線接入功率計的端口，另一路輸出端通過光纖跳線接入波長計的端口；通過光功率計和波長計分別實時監待測測激光器在不同溫度環境下工作時的功率及波長的變化情況。

一種激光器的高低溫性能的測試篩選方法，采用上述測試篩選系統，具體步驟如下：

(1)常溫測試：首先測試常溫下的產品數據，并實時觀察電腦軟件上的待測激光器真實的溫度上報值，待上報溫度穩定后，記錄波長計的波長、功率計的功率值、穩壓電源的電流值。

(2)高溫測試：打開高低溫箱，設置箱內溫度60℃進行高溫測試，并實時觀察電腦軟件上的待測激光器真實的溫度上報值；待上報溫度穩定后，記錄波長計的波長、功率計的功率值、穩壓電源的電流值，并通過電流值計算出功耗值；再將高低溫箱的溫度值設定65℃，重復操作；以此類推以5℃為單位依次提高高低溫箱的溫度，待每次溫度穩定后重復操作，直至波長、功率或功耗超出范圍，或電腦軟件的上報溫度超過85℃時，則停止高溫測試。