[實(shí)用新型]一種多徑環(huán)境下RFID標(biāo)簽性能測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202020233893.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN211955691U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃鈺;蒙秀耀;章學(xué)周;胡冶;李遠(yuǎn)朝;金瑋;邵暉 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海聚星儀器有限公司;江蘇省質(zhì)量和標(biāo)準(zhǔn)化研究院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 上海正旦專(zhuān)利代理有限公司 31200 | 代理人: | 張磊 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)張東*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 環(huán)境 rfid 標(biāo)簽 性能 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種多徑環(huán)境下RFID標(biāo)簽性能測(cè)試裝置,由接收天線(1)、射頻接收器(2)、測(cè)量與應(yīng)答處理器(3)、多徑模擬器(4)、射頻發(fā)射器(5)、發(fā)射天線(6)和標(biāo)簽(7)組成,其特征在于:接收天線(1)的輸入端接收標(biāo)簽(7)反射的無(wú)線電波,輸出端通過(guò)饋線連接射頻接收器(2)的輸入端,射頻接收器(2)的輸出端連接測(cè)量與應(yīng)答處理器(3)的輸入端,測(cè)量與應(yīng)答處理器(3)的輸出端連接多徑模擬器(4)的輸入端,多徑模擬器(4)的輸出端連接射頻發(fā)射器(5)的輸入端,射頻發(fā)射器(5)的輸出端連接發(fā)射天線(6)的輸入端,發(fā)射天線(6)的輸出端連接標(biāo)簽(7)的輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多徑環(huán)境下RFID標(biāo)簽性能測(cè)試裝置,其特征在于:所述射頻接收器(2)、測(cè)量與應(yīng)答處理器(3)、多徑模擬器(4)和射頻發(fā)射器(5)分別和控制器(8)通過(guò)PXI(e)總線進(jìn)行雙向連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多徑環(huán)境下RFID標(biāo)簽性能測(cè)試裝置,其特征在于:所述標(biāo)簽(7)為被測(cè)RFID標(biāo)簽。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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