[實(shí)用新型]一種地膜殘留調(diào)查裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202020205430.8
• 申請(qǐng)日: 2020-02-25
• 公開（公告）號(hào): CN211504768U
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高維常;曾隕濤;蔡凱;李光雷;陳偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 貴州省煙草科學(xué)研究院
• 主分類號(hào): G01N1/08
• 分類號(hào): G01N1/08;G01N1/28
• 代理公司: 貴陽中新專利商標(biāo)事務(wù)所 52100
• 代理人: 張行超

本實(shí)用新型公開了一種地膜殘留調(diào)查裝置，該調(diào)查裝置用于固定在大田采樣樣方邊緣，所述調(diào)查裝置包括：第一長條形塊；第二長條形塊；第三長條形塊；第四長條形塊；所述第一長條形塊、第二長條形塊、第三長條形塊和第四長條形塊依次搭接構(gòu)成與大田采樣樣方匹配的采樣框架結(jié)構(gòu)，在進(jìn)行土壤采樣時(shí)，采樣框架結(jié)構(gòu)會(huì)壓在樣方邊緣的部分土壤上，此時(shí)可沿著采樣框架結(jié)構(gòu)外向下挖溝，形成比樣方略大的土壤框體，再逐漸向土壤框體削去樣方多余的土壤，進(jìn)而得到準(zhǔn)確的樣方土壤框體，從而可以提高采樣的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種地膜殘留調(diào)查裝置，屬于大田地膜殘留調(diào)查技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

為了研究降解地膜的降解情況，常需要進(jìn)行大田覆膜土壤的地膜殘留取樣試驗(yàn)。目前進(jìn)行大田覆膜降解測(cè)試試驗(yàn)的過程為，在覆蓋地膜的地塊，待作物種植收獲后，選取666.7 m²作為一個(gè)調(diào)查點(diǎn)，采樣方法可以采用梅花點(diǎn)法或?qū)蔷€法，劃線采集5個(gè)規(guī)格為100 cm×100 cm正方形樣方，測(cè)定0～30 cm土層的地膜殘留量。當(dāng)然，也可根據(jù)測(cè)試需要選取其它面積的樣方，以及測(cè)量深度。然而，現(xiàn)有劃線采集地膜殘留樣方的方法存在樣方內(nèi)土壤在挖取時(shí)易塌陷，從而造成無法準(zhǔn)確測(cè)量樣方地膜殘留量的問題。

實(shí)用新型內(nèi)容

基于上述，本實(shí)用新型提供一種地膜殘留調(diào)查裝置，以解決現(xiàn)有劃線采集地膜殘留樣方的方法存在的樣方內(nèi)土壤在挖取時(shí)易塌陷，從而造成無法準(zhǔn)確測(cè)量樣方地膜殘留量的問題。

本實(shí)用新型的技術(shù)方案是：一種地膜殘留調(diào)查裝置，該調(diào)查裝置用于固定在大田采樣樣方邊緣，所述調(diào)查裝置包括：

第一長條形塊；

第二長條形塊；

第三長條形塊；

第四長條形塊；

所述第一長條形塊、第二長條形塊、第三長條形塊和第四長條形塊依次搭接構(gòu)成與大田采樣樣方匹配的采樣框架結(jié)構(gòu)。

可選的，在所述第一長條形塊、第二長條形塊、第三長條形塊和第四長條形塊的兩端搭接處均設(shè)有固定孔，在所述固定孔內(nèi)安裝有固定插件，將所述固定插件穿過所述固定孔插入到大田土壤中，以將所述采樣框架結(jié)構(gòu)固定在大田采樣樣方的邊緣。

可選的，在所述第一長條形塊上沿其長度方向設(shè)有若干個(gè)固定孔，在所述第二長條形塊上沿其長度方向設(shè)有若干個(gè)固定孔，在所述第三長條形塊上沿其長度方向設(shè)有若干個(gè)固定孔，在所述第四長條形塊上沿其長度方向設(shè)有若干個(gè)固定孔。

可選的，若干個(gè)所述固定孔間隔均勻布置在所述第一長條形塊、第二長條形塊、第三長條形塊或第四長條形塊上。

可選的，所述固定插件包括尖形桿體和抽拉環(huán)，所述尖形桿體連接在所述抽拉環(huán)的底部。

可選的，在所述尖形桿體上沿其長度方向設(shè)有刻度尺寸。

可選的，所述第一長條形塊、第二長條形塊、第三長條形塊和第四長條形塊的寬度均為8～12cm。

本實(shí)用新型的有益效果是：由于第一長條形塊、第二長條形塊、第三長條形塊和第四長條形塊依次搭接構(gòu)成與大田采樣樣方匹配的采樣框架結(jié)構(gòu)，因此在進(jìn)行土壤采樣時(shí)，采樣框架結(jié)構(gòu)會(huì)壓在樣方邊緣的部分土壤上，此時(shí)可沿著采樣框架結(jié)構(gòu)外向下挖溝，形成比樣方略大的土壤框體，逐漸向土壤框體削去樣方多余的土壤，進(jìn)而得到準(zhǔn)確的樣方土壤框體，從而可以提高采樣的準(zhǔn)確性。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例地膜殘留調(diào)查裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為固定插件的示意圖；

圖3為鏟子的結(jié)構(gòu)示意圖；