[實(shí)用新型]一種三極管放大電路特性參數(shù)測(cè)量?jī)x有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202020199236.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN211856809U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 沈建國(guó);葛如陽(yáng);褚學(xué)業(yè);鄭錦玉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江師范大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 杭州中利知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33301 | 代理人: | 盧海龍 |
| 地址: | 321004 *** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 三極管 放大 電路 特性 參數(shù) 測(cè)量?jī)x | ||
本發(fā)明涉及教學(xué)儀器設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種三極管放大電路特性參數(shù)測(cè)量?jī)x,包括:微控制器、DDS、壓控衰減器、輸入阻抗網(wǎng)絡(luò)、多路壓控放大器、多路檢波器、高精度ADC、高速ADC、輸出阻抗網(wǎng)絡(luò);微控制器控制DDS產(chǎn)生電壓信號(hào),控制程控衰減器、輸入阻抗網(wǎng)絡(luò)和輸出阻抗網(wǎng)絡(luò)來(lái)調(diào)整被測(cè)三極管放大電路的輸入與輸出信號(hào),并將上述三個(gè)模塊輸出信號(hào)送入多路程控放大器、高速ADC、多路檢波器及高精度ADC獲得A/D采樣值,微控制器通過(guò)算法分析采樣值從而得到被測(cè)電路特性參數(shù)并發(fā)至串口屏和網(wǎng)絡(luò)模塊。本發(fā)明能對(duì)放大電路的輸入輸出阻抗、放大倍數(shù)、頻率響應(yīng)、諧波失真等參數(shù)進(jìn)行快速和精準(zhǔn)的測(cè)量,并具有遠(yuǎn)程交互功能,可作為高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器使用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及教學(xué)儀器設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種三極管放大電路特性參數(shù)測(cè)量?jī)x。
背景技術(shù)
在目前的高校電子電路類課程教學(xué)中,往往需要對(duì)三極管放大電路的輸入輸出阻抗、放大倍數(shù)、頻率響應(yīng)、諧波失真等特性進(jìn)行測(cè)量,并涉及共射、共基和共集三種組態(tài)的測(cè)量教學(xué)。而目前教學(xué)中,一般需要使用信號(hào)發(fā)生器、示波器等多種儀器的配合來(lái)測(cè)量,測(cè)量過(guò)程非常繁瑣、耗費(fèi)時(shí)間較長(zhǎng)且測(cè)量精度一般,更重要的是繁瑣的測(cè)量過(guò)程等會(huì)影響學(xué)生的學(xué)習(xí)熱情,導(dǎo)致學(xué)生的學(xué)習(xí)積極性較低、教學(xué)的效果較差。
專利CN201621102856.0公開(kāi)了一種電路參數(shù)測(cè)量?jī)x,采用單片機(jī)控制核心,主要由正弦波發(fā)生器、數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)、處理、顯示等功能模塊組成,其中,數(shù)據(jù)處理包括了幅頻測(cè)量以及相頻測(cè)量部分,實(shí)際操作通過(guò)單片機(jī)觸屏控制來(lái)實(shí)現(xiàn)參數(shù)測(cè)量,采用DDS芯片AD9854實(shí)現(xiàn)正交信號(hào)的發(fā)生,通過(guò)模擬乘法器實(shí)現(xiàn)參數(shù)測(cè)量。
但是其仍然存在著測(cè)量速度慢、精度差的問(wèn)題,從而嚴(yán)重影響教學(xué)質(zhì)量、影響學(xué)生的學(xué)習(xí)積極性;無(wú)法滿足對(duì)于不同的參數(shù)進(jìn)行區(qū)別對(duì)待,例如對(duì)于測(cè)量速度要求高的參數(shù),優(yōu)先考慮其測(cè)量速度,對(duì)于精度較高的參數(shù)優(yōu)先考慮其精度。
因此,現(xiàn)在需要一種能自動(dòng)、快速測(cè)量三極管放大電路各項(xiàng)參數(shù),并且可滿足較高精度的三極管放大電路特性參數(shù)測(cè)量?jī)x。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種三極管放大電路特性參數(shù)測(cè)量?jī)x。該測(cè)量?jī)x具有自動(dòng)、快速測(cè)量三極管放大電路各項(xiàng)參數(shù)、測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn)。
本發(fā)明為實(shí)現(xiàn)其技術(shù)目的所采用的技術(shù)方案是:一種三極管放大電路特性參數(shù)測(cè)量?jī)x,其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是,包括:外殼和內(nèi)部的微控制器、DDS、程控衰減器、輸入阻抗網(wǎng)絡(luò)、多路程控放大器、多路檢波器、高精度ADC、高速ADC以及輸出阻抗網(wǎng)絡(luò)。其各種特征參數(shù)測(cè)量方案均按照高校電子電路類相關(guān)課程中晶體三極管放大器實(shí)驗(yàn)原理設(shè)計(jì)。
具體地,微控制器控制DDS產(chǎn)生電壓信號(hào),控制程控衰減器、輸入阻抗網(wǎng)絡(luò)和輸出阻抗網(wǎng)絡(luò)調(diào)整被測(cè)三極管放大電路的輸入與輸出信號(hào),并將上述三個(gè)模塊輸出信號(hào)送入多路程控放大器、高速ADC、多路檢波器及高精度ADC獲得A/D采樣值,微控制器通過(guò)處理采樣值從而得到被測(cè)電路的特性參數(shù)并發(fā)至串口屏和網(wǎng)絡(luò)模塊。
優(yōu)選地,所述輸入阻抗網(wǎng)絡(luò)、輸出阻抗網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)方式為低阻抗模擬開(kāi)關(guān)選通對(duì)應(yīng)阻抗網(wǎng)絡(luò)。
優(yōu)選地,所述多路程控放大器、程控衰減器由運(yùn)算放大器與數(shù)字電位器構(gòu)成,通過(guò)改變數(shù)字電位器阻值實(shí)現(xiàn)增益程控。
優(yōu)選地,所述高速ADC采用10MSPS采樣速率的12位ADC芯片AD9220。
具體地,對(duì)于需要快速測(cè)量的參數(shù)如輸入、輸出阻抗等,利用高速ADC可滿足實(shí)際使用需求,測(cè)量測(cè)度更快。
優(yōu)選地,所述高精度ADC采用24位分辨率和23位無(wú)噪聲分辨率的8路ADC芯片ADS1256。
具體地,對(duì)于需要精確測(cè)量的參數(shù)如放大倍數(shù)、頻率響應(yīng)等,利用高精度ADC,可得到更為精確的測(cè)量結(jié)果。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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