[實(shí)用新型]按鍵檢測(cè)電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202020190091.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN212180969U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王志懋;李亮;管恩慧;李咸珍;李雪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/327 | 分類號(hào): | G01R31/327;G01R19/25 |
| 代理公司: | 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李莎 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 按鍵 檢測(cè) 電路 | ||
1.一種按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,包括第一按鍵開(kāi)關(guān)單元、至少一個(gè)第二按鍵開(kāi)關(guān)單元和至少一個(gè)輔助檢測(cè)電路;
所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元,包括串聯(lián)的第一按鍵開(kāi)關(guān)和第一電阻;所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元的第一端經(jīng)過(guò)第三電阻連接第一電壓端,所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元的第二端連接參考電壓端;
所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元,包括串聯(lián)的第二按鍵開(kāi)關(guān)和第二電阻;所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元的第一端經(jīng)過(guò)第三電阻連接第一電壓端,所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元的第二端連接所述輔助檢測(cè)電路;
所述輔助檢測(cè)電路,用于根據(jù)所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元的第二端的電壓信號(hào),確定所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元中的第二按鍵開(kāi)關(guān)是否被按下;
其中,所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元的第一端和所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元的第一端均連接所述按鍵檢測(cè)電路的模數(shù)轉(zhuǎn)換接口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元,包括若干第一按鍵開(kāi)關(guān)和若干第一電阻;所述第一按鍵開(kāi)關(guān)與所述第一電阻一一對(duì)應(yīng)地串聯(lián),形成若干第一串聯(lián)支路;若干所述第一串聯(lián)支路并聯(lián)設(shè)置,若干所述第一電阻的阻值各不相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元,包括若干第二按鍵開(kāi)關(guān)和若干第二電阻;所述第二按鍵開(kāi)關(guān)與所述第二電阻一一對(duì)應(yīng)地串聯(lián),形成若干第二串聯(lián)支路;若干所述第二串聯(lián)支路并聯(lián)設(shè)置,若干所述第二電阻的阻值各不相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述第一電阻的阻值與所述第二電阻的阻值相等。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元,包括若干第一按鍵開(kāi)關(guān)和若干第一電阻;所述第一按鍵開(kāi)關(guān)與所述第一電阻一一對(duì)應(yīng)地串聯(lián),形成若干第一串聯(lián)支路;若干所述第一串聯(lián)支路并聯(lián)設(shè)置,若干所述第一電阻的阻值各不相同;
所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元,包括若干第二按鍵開(kāi)關(guān)和若干第二電阻;所述第二按鍵開(kāi)關(guān)與所述第二電阻一一對(duì)應(yīng)地串聯(lián),形成若干第二串聯(lián)支路;若干所述第二串聯(lián)支路并聯(lián)設(shè)置,若干所述第二電阻的阻值各不相同;
其中,若干所述第一電阻的阻值與若干所述第二電阻的阻值一一對(duì)應(yīng)地相等。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述輔助檢測(cè)電路包括第一控制單元和晶體管,所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元的第二端連接所述晶體管的控制極,所述晶體管的第一極連接所述第一控制單元的I/O接口,所述晶體管的第二極連接參考電壓端,所述晶體管的第一極經(jīng)過(guò)第四電阻連接第二電壓端。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述按鍵檢測(cè)電路還包括第二控制單元,所述第二控制單元包括模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊,所述模數(shù)轉(zhuǎn)換接口與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊連接;
所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊用于將所述模數(shù)轉(zhuǎn)換接口的電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),所述第二控制單元用于根據(jù)所述數(shù)字信號(hào),結(jié)合所述輔助檢測(cè)電路的檢測(cè)結(jié)果,確定所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元和所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元中是否存在按鍵開(kāi)關(guān)被按下或者確定所述第一按鍵開(kāi)關(guān)單元和所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元中被按下的按鍵開(kāi)關(guān)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述第一控制單元和第二控制單元中的至少其一為MCU芯片或SOC芯片。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述第一控制單元和第二控制單元復(fù)用為一個(gè)控制芯片。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的按鍵檢測(cè)電路,其特征在于,所述第二按鍵開(kāi)關(guān)單元和所述輔助檢測(cè)電路的數(shù)量均為多個(gè);多個(gè)所述輔助檢測(cè)電路中的第一控制單元復(fù)用為一個(gè)控制芯片。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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