[實用新型]一種酸性氯化銅蝕刻液參數監控取樣盒有效
| 申請號: | 202020183213.3 | 申請日: | 2020-02-19 |
| 公開(公告)號: | CN211452435U | 公開(公告)日: | 2020-09-08 |
| 發明(設計)人: | 姜圣毅;尹曹勇 | 申請(專利權)人: | 大連保稅區金寶至電子有限公司 |
| 主分類號: | G01D21/02 | 分類號: | G01D21/02;G01D11/24;G01D11/00;C23F1/18 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 酸性 氯化銅 蝕刻 參數 監控 取樣 | ||
本實用新型公開了一種酸性氯化銅蝕刻液參數監控取樣盒,本實用新型包括盒體,比重計和酸度探頭;盒體為長方體結構,盒體的上部為上蓋,盒體的底部為下蓋,上蓋覆蓋盒體的上端,下蓋覆蓋盒體的下端,下蓋與盒體的下端固定;隔斷一與隔倉都在盒體內部,隔斷一是長方形板狀;隔倉包括隔倉底板、隔斷二與隔斷三,底板、隔斷二與隔斷三這三個部分都是長方形板狀。本實用新型減少蝕刻液滯留,縮小蝕刻液的監控值和實際值之間偏差。
技術領域
本實用新型涉及化工設備技術,具體為一種酸性氯化銅蝕刻液參數監控取樣盒。
背景技術
在酸性氯化銅蝕刻液進行銅合金蝕刻加工過程中,Cu和Cu2+反應生成Cu+,隨著銅合金不斷被蝕刻,Cu2+濃度不斷降低,Cu+濃度不斷上升,蝕刻液蝕刻能力不斷下降,為保證穩定的蝕刻能力,需添加氧化劑(雙氧水或氯酸鈉)和鹽酸對蝕刻液再生,將Cu+氧化為Cu2+,恢復蝕刻液蝕刻能力。其反應原理為:Cu+CuCl2=Cu2Cl2,Cu2Cl2+H2O2+2HCl=2CuCl2+2H2O。這樣蝕刻液中Cu2+的濃度就在降低→升高→再降低→再升高中不斷周而復始地循環,隨著蝕刻生產技術的發展和提高,自動添加氧化劑和鹽酸的方式取代了手動添加方式,這就需要精確監控蝕刻液酸度值、氧化還原電位(ORP值)、比重值、溫度值四個參數的變化,自動控制氧化劑和鹽酸的添加時間和量,從而控制蝕刻液的四個參數在合適范圍內,進而實現穩定的生產。
現有蝕刻液參數監控取樣盒存在一些問題:易滯留部分蝕刻液,造成蝕刻液的監控值和實際值之間的偏差,這對產品尺寸的穩定性,尤其是尺寸精度要求高的產品會造成很不利的影響。
發明內容
為了解決上述問題,本實用新型提供一種酸性氯化銅蝕刻液參數監控取樣盒。
本實用新型采取的技術方案如下:
種酸性氯化銅蝕刻液參數監控取樣盒,包括盒體,比重計和酸度探頭;盒體為長方體結構,盒體的上部為上蓋,盒體的底部為下蓋,上蓋覆蓋盒體的上端,下蓋覆蓋盒體的下端,下蓋與盒體的下端固定;隔斷一與隔倉都在盒體內部,隔斷一是長方形板狀;隔倉包括隔倉底板、隔斷二與隔斷三,底板、隔斷二與隔斷二這三個部分都是長方形板狀;隔斷一底部固定在下蓋上,隔斷一上部與上蓋的底部具有空隙,隔斷一的兩個邊緣與盒體的前后內壁面連接;隔斷三底部固定在下蓋上,隔斷二的兩個邊緣分別與盒體的前后內壁面連接,隔斷三的上部與上蓋的底部具有空隙;隔斷二的上端與上蓋的底部連接,隔斷二的下端與下蓋的上部具有空隙,隔斷二的兩個邊緣與盒體的前后內壁面連接;隔斷二在隔斷三與隔斷一之間,隔斷一、隔斷二與隔斷三這三個部分相互平行;隔斷二的下端為隔倉底板,隔倉底板的一端與隔斷二的底部連接,隔倉底板的另一端與隔斷三連接,隔倉底板與下蓋平行,隔倉底板的前后兩端分別與盒體的前后內壁面連接,隔倉底板上分布有若干個孔;隔斷一靠近盒體的左側內壁,隔斷三靠近盒體的右側內壁;隔斷一與盒體的左側內壁之間具有酸度探頭、布液系統和溫度探頭,酸度探頭的上部和溫度探頭的上部都露在上蓋上面,酸度探頭的上部和溫度探頭的上部都固定在上蓋上面,布液系統在盒體的底部上,布液系統包括進液管與布液裝置,液管與布液裝置連通,布液裝置為布液器;隔斷二與隔斷三之間具有穩流筒,穩流筒為桶狀,穩流筒的上端固定在上蓋的底部上,穩流筒的下端封閉,穩流筒的外壁面上分布有若干個孔,穩流筒內具有比重計,比重計的上端固定在上蓋上,隔斷二與隔斷一之間具有ORP電極,ORP電極的上端固定在上蓋上。在盒體左側內壁的下部具有出液管,出液管一端在盒體外部,出液管的另一端與盒體的內部連通。
優選的,隔斷一上部與上蓋的底部空隙為4厘米。
優選的,隔斷三的上部與上蓋的底部空隙為5厘米。
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