[實用新型]一種集成電路板生產用殘次品測試裝置

有效

• 申請號: 202020173929.5
• 申請日: 2020-02-17
• 公開（公告）號: CN212031659U
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發明（設計）人: 查根清;程薇薇
• 申請（專利權）人: 廈門晶星電子材料有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/067
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種集成電路板生產用殘次品測試裝置，包括裝置主體（1）、萬用表（2）、連接探針（11）、導線（13）和連接夾（17），其特征在于：所述裝置主體（1）上安裝有萬用表（2），所述裝置主體（1）的下側固定有工作主體（3），且工作主體（3）與裝置主體（1）的連接處通過連接銷軸（4）與活動主體（5）相連接，并且活動主體（5）的外端設置有擋位板（6），所述活動主體（5）上開設有第一滑槽（7），且第一滑槽（7）的內部連接有限位塊（15），所述限位塊（15）的內側固定有滑動桿（8），且限位塊（15）的外側安裝后第一螺栓（9），所述滑動桿（8）上開設有第二滑槽（16），且第二滑槽（16）的內部連接有滑動塊（10），所述滑動塊（10）的內部固定有連接探針（11），且滑動塊（10）的下側安裝有第二螺栓（12），所述連接探針（11）的下端通過連接夾（17）與導線（13）相連接，且導線（13）電性連接有萬用表（2），所述裝置主體（1）的后側安裝有活動板（14）。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路板生產用殘次品測試裝置，其特征在于：所述萬用表（2）通過導線（13）與連接探針（11）之間為電性連接，且導線（13）通過連接夾（17）與連接探針（11）之間為可拆卸連接。

3.根據權利要求1所述的一種集成電路板生產用殘次品測試裝置，其特征在于：所述工作主體（3）與裝置主體（1）為一體化結構，且工作主體（3）的上側為凹槽狀結構。

4.根據權利要求1所述的一種集成電路板生產用殘次品測試裝置，其特征在于：所述活動主體（5）通過連接銷軸（4）在裝置主體（1）上構成翻轉結構，且活動主體（5）的尺寸小于工作主體（3）的上側尺寸。

5.根據權利要求1所述的一種集成電路板生產用殘次品測試裝置，其特征在于：所述滑動桿（8）的兩端通過限位塊（15）與第一滑槽（7）的連接在活動主體（5）上構成滑動結構，且限位塊（15）為四楞柱，并且限位塊（15）的寬度等于第一滑槽（7）的寬度。

6.根據權利要求1所述的一種集成電路板生產用殘次品測試裝置，其特征在于：所述滑動塊（10）嵌入式活動連接在滑動桿（8）上的第二滑槽（16）內，且連接探針（11）固定設置在滑動塊（10）上，并且連接探針（11）的上端凸出活動主體（5）上側面2mm。