[實用新型]一種用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺

有效

• 申請號: 202020108417.0
• 申請日: 2020-01-17
• 公開（公告）號: CN211697905U
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 鄭益民;王逸晨;方旭
• 申請（專利權）人: 浙江諾益科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺，括殼體，所述殼體的內部為中空結構，所述殼體的頂部設置有頂蓋，所述殼體后表面底部的靠一側位置固定安裝有SMA接口，所述SMA接口的后端電性連接有歐姆抗組，所述歐姆抗組的后端電性連接有連接線，所述連接線的后端電性連接有濾波器。該用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺，通過采用殼體、卡扣和轉接頭的設計，殼體全身采用全金屬制造，形成法拉第籠，再搭配特殊的卡扣和轉接頭，能夠保證電磁屏蔽效能，可以有效防止外界電磁環境對測試結果的影響，確保數據的可靠性，矢量網絡分析儀接口、頻譜分析儀接口、BNC接口、SMA接口和PCB測試版供電電源接口的設計。

技術領域

本實用新型涉及集成電路技術領域，具體為一種用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺。

背景技術

集成電路(integrated circuit)是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步。它在電路中用字母“IC”表示。集成電路發明者為杰克·基爾比(基于鍺(Ge)的集成電路)和羅伯特·諾伊思(基于硅(Si)的集成電路)。當今半導體工業大多數應用的是基于硅的集成電路。

用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺，主要是針對集成電路測試。在集成電路EMC測試中，被測品包含PCB板級產品，需要測量PCB板走線之間產生的共模干擾，并提供電磁屏蔽的測試環境。

現有的用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺，無法保證在電磁屏蔽的環境下進行測試，由于受到外界的環境變化干擾較大，從而無法保證測試數據的準確性，且無法在多個方向的測試點進行測試，需要人為變換位置，這樣不僅大大的增加了測試的時間和人力，還有可能無法找到最大的干擾點，PCB供電沒有經過處理，直接由市電供電，易受到電網波動帶來的影響，不能滿足使用者的使用需求。因此，我們提出一種用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺，以解決上述背景技術中提出現有的測試設備，無法保證在電磁屏蔽的環境下進行測試，由于受到外界的環境變化干擾較大，從而無法保證測試數據的準確性，且無法在多個方向的測試點進行測試，需要人為變換位置，這樣不僅大大的增加了測試的時間和人力，還有可能無法找到最大的干擾點，PCB供電沒有經過處理，直接由市電供電，易受到電網波動帶來的影響，不能滿足使用者使用需求的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺，一種用于集成電路共模傳導騷擾測試的法拉第籠工作臺，包括殼體，所述殼體的內部為中空結構，所述殼體的頂部設置有頂蓋，所述殼體后表面底部的靠一側位置固定安裝有SMA接口，所述SMA接口的后端電性連接有歐姆抗組，所述歐姆抗組的后端電性連接有連接線，所述連接線的后端電性連接有濾波器，所述殼體后表面底部的靠另一側位置固定安裝有PCB測試版供電電源接口，所述殼體前表面頂部的靠中心位置設置有濾波器輸入輸出口。

優選的，所述殼體前表面與后表面頂部的靠兩側位置均固定安裝有轉接頭，所述頂蓋前表面與后表面底部的靠兩側位置均固定安裝有卡扣，四個卡扣的底部均貫穿四個轉接頭且延伸至轉接頭的外部。

優選的，所述殼體的前表面固定安裝有矢量網絡分析儀接口，所述矢量網絡分析儀接口位于殼體底部的靠中心位置。

優選的，所述殼體的前表面固定安裝有頻譜分析儀接口，所述頻譜分析儀接口位于殼體前表面底部的靠一側位置。

優選的，所述殼體前表面固定安裝有BNC接口，所述BNC接口位于殼體底部的靠另一側位置。