[實(shí)用新型]一種雙位多靶離子束沉積裝置有效
【權(quán)利要求書】:
1.一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:包括機(jī)架、真空鍍膜室、激光器、主離子源、輔離子源、旋轉(zhuǎn)靶座和可加熱旋轉(zhuǎn)及前后移動(dòng)的基片架,所述真空鍍膜室裝設(shè)于機(jī)架上,所述主離子源、旋轉(zhuǎn)靶座和基片架均設(shè)于真空鍍膜室內(nèi),所述基片架夾設(shè)有基片,所述主離子源、旋轉(zhuǎn)靶座和基片架的中心位于同一水平面上,所述主離子源和旋轉(zhuǎn)靶座均為兩個(gè),兩旋轉(zhuǎn)靶座相互間隔設(shè)置,一個(gè)旋轉(zhuǎn)靶座上安裝有四種不同的靶材,所述基片架與兩旋轉(zhuǎn)靶座相對(duì)設(shè)置,并且所述基片架的中心線與兩旋轉(zhuǎn)靶座的中心線相互重疊,兩主離子源分設(shè)于基片架的兩側(cè),一個(gè)主離子源的發(fā)射口對(duì)準(zhǔn)與之相近的一個(gè)旋轉(zhuǎn)靶座,所述輔離子源設(shè)置于真空鍍膜室的下方,所述輔離子源的發(fā)射口對(duì)準(zhǔn)基片,所述真空鍍膜室設(shè)有石英窗,所述激光器發(fā)出的激光束穿過(guò)石英窗射入靶材上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:所述主離子源的中心線與旋轉(zhuǎn)靶座的中心線所成角度為45°。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:所述輔離子源的中心線與基片架的中心線所成角度為65°。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:還包括驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)靶座旋轉(zhuǎn)的第一驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)設(shè)于真空鍍膜室的上方,所述旋轉(zhuǎn)靶座與第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)的輸出端固定連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:還包括驅(qū)動(dòng)基片架轉(zhuǎn)動(dòng)的第二驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)安裝于真空鍍膜室的側(cè)向,所述基片架與第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)的輸出軸固定連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:所述基片架和第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)之間設(shè)有用于使基片架能前后伸縮的伸縮裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:所述基片架內(nèi)裝設(shè)有用于將基片加熱的加熱器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:還包括抽真空系統(tǒng),所述抽真空系統(tǒng)包括機(jī)械泵和分子泵,所述機(jī)械泵用于對(duì)真空鍍膜室進(jìn)行粗抽,所述機(jī)械泵的進(jìn)氣口連通分子泵的出氣口;所述分子泵用于對(duì)真空鍍膜室進(jìn)行二級(jí)抽真空,所述分子泵的進(jìn)氣口連通真空鍍膜室的出氣口;所述分子泵和真空鍍膜室之間設(shè)置有閘板閥和用于測(cè)定真空鍍膜室內(nèi)真空度的真空計(jì)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙位多靶離子束沉積裝置,其特征在于:所述真空鍍膜室設(shè)有用于向真空鍍膜室輸入氣體的進(jìn)氣接口。
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分,VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東莞市鑫鈦極真空科技有限公司,未經(jīng)東莞市鑫鈦極真空科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202020108027.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。