[實用新型]一種電子元件測試裝置

有效

• 申請號: 202020077761.8
• 申請日: 2020-01-15
• 公開（公告）號: CN212379434U
• 公開（公告）日: 2021-01-19
• 發明（設計）人: 何海龍
• 申請（專利權）人: 泗洪鑫宇陽電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R15/12;G01R31/01
• 代理公司: 北京高航知識產權代理有限公司 11530
• 代理人: 喬浩剛

1.一種電子元件測試裝置，包括頂塊(1)和底座(2)，其特征在于：頂塊(1)內設有萬用表(3)，所述底座(2)固定于頂塊(1)下端，底座(2)兩側內對立設有兩組操作室(4)，所述操作室(4)與底座(2)外側相接通，且底座(2)內設有卡盒通道(5)，卡盒通道(5)內活動設有電子元件卡盒(6)，所述操作室(4)底部固定設有支撐架(7)，所述支撐架(7)內設有表筆(8)，且兩組操作室(4)與卡盒通道(5)之間均設有表筆通道(9)。

2.根據權利要求1所述的一種電子元件測試裝置，其特征在于：所述電子元件卡盒(6)底部固定設有兩組長方體狀的凸塊，且底座(2)內設有與該凸塊形狀相匹配的通道，且該通道頂部與卡盒通道(5)內相接通。

3.根據權利要求1所述的一種電子元件測試裝置，其特征在于：所述電子元件卡盒(6)由多組電子元件卡塊(10)組成，所述電子元件卡塊(10)頂部設有與電子元件形狀相匹配的凹槽，且電子元件卡塊(10)兩側設有圓柱狀的通道將電子元件卡塊(10)兩側與該凹槽內相接通，且該通道與表筆(8)端頭形狀相匹配，并且該通道與表筆通道(9)位于同一水平位置。

4.根據權利要求1所述的一種電子元件測試裝置，其特征在于：所述支撐架(7)側面呈“Y”狀，且支撐架(7)上端與表筆(8)形狀相匹配。

5.根據權利要求1所述的一種電子元件測試裝置，其特征在于：所述表筆(8)設有兩組，且兩組表筆(8)均通過導線電性連接于萬用表(3)。

6.根據權利要求1所述的一種電子元件測試裝置，其特征在于：所述表筆通道(9)設有兩組，表筆通道(9)一端與卡盒通道(5)相接通，表筆通道(9)另一端與操作室(4)相接通。