[實用新型]一種用于保密芯片測試的垂直探針卡、固定結構和防損傷結構

有效

• 申請號: 202020062216.1
• 申請日: 2020-01-11
• 公開（公告）號: CN211577231U
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 周明;徐劍
• 申請（專利權）人: 強一半導體（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種用于保密芯片測試的垂直探針卡，包括PCB板、固定結構和防損傷結構；固定結構包括PCB板、固定螺栓、加強板、蓋板、沉降槽、保護管；防損傷結構包括、彈簧、推塊、針桿、連接線、滾珠、安裝管、針頭、保護帽。本實用新型結構簡單，便于操作，通過固定螺栓在PCB板頂部和底部分別連接有加強板和蓋板，便于保護PCB板，通過沉降槽使固定螺栓完全沉進蓋板內，通過保護管可以保護并固定針桿；推塊通過彈簧可以在探針上移時型外側移動，防止探針卡斷裂，并在測試完畢后，使探針自動回復初始位置，便于進行測試。

技術領域

本實用新型涉及一種用于保密芯片測試的垂直探針卡、固定結構和防損傷結構，屬于探針卡應用技術領域。

背景技術

探針卡是一種測試接口，主要對裸芯進行測試，通過連接測試機和芯片，通過傳輸信號對芯片參數進行測試，使用時將探針卡上的探針直接與芯片上的焊墊或凸塊直接接觸，引出芯片訊號，再配合周邊測試儀器與軟件控制達到自動化量測的目的，探針卡應用在IC尚未封裝前，針對裸晶系以探針做功能測試，篩選出不良品、再進行之后的封裝工程，因此，探針卡是IC制造中對制造成本影響相當大的重要制程之一。

目前在使用探針卡進行保密芯片測試時，探針會因為接觸帶保密芯片而產生一個力，傳統的探針卡將探針設計成彎曲的狀態來吸收這個力，但是這種彎曲的探針不易生產，且探針易斷折，降低了保密芯片的測試速度。因此，針對上述問題提出一種用于保密芯片測試的垂直探針卡。

實用新型內容

本實用新型的目的就在于為了解決上述問題而提供一種用于保密芯片測試的垂直探針卡。

本實用新型通過以下技術方案來實現上述目的，一種用于保密芯片測試的垂直探針卡，包括PCB板、固定結構和防損傷結構，所述PCB板頂部螺紋連接固定螺栓；

所述固定結構包括加強板，所述加強板螺紋連接于固定螺栓頂部，所述固定螺栓底部螺紋連接蓋板，所述蓋板開設有沉降槽，所述蓋板底部開設有連通槽，所述連通槽側壁固接保護管；

所述防損傷結構包括彈簧，所述彈簧固接于保護管內壁，所述彈簧一側固接推塊，所述推塊一側滑動連接針桿，所述針桿頂部固接連接線，所述連接線頂部固接于PCB板底部，所述針桿一側滑動連接有滾珠，所述滾珠轉動連接于安裝管一側，所述安裝管固接于保護管內壁，所述針桿底部固接針頭，所述針頭滑動連接保護帽，所述保護帽固接于保護管底部。

優選的，所述PCB板、加強板和蓋板均開設有若干個螺紋孔，且所述PCB 板、加強板和蓋板依次通過固定螺栓相連接，所述蓋板底部開設有若干個沉降槽，且所述蓋板與螺紋孔相連通。

優選的，所述安裝管固接于保護管內壁，且所述安裝管內側轉動連接若干個均勻分布的滾珠，所述連接線與PCB板電性連接，所述蓋板開設有若干個均勻分布的連通槽，所述連通槽側壁均固接有保護管。

優選的，所述保護管內壁固接若干個呈環形陣列分布的彈簧，且所述彈簧一側均固接有推塊，所述推塊的橫截面為扇形結構，所述推塊的縱截面為T型結構。

一種用于保密芯片測試的垂直探針卡用固定結構，包括加強板，所述加強板螺紋連接于固定螺栓頂部，所述固定螺栓底部螺紋連接蓋板，所述蓋板開設有沉降槽，所述蓋板底部開設有連通槽，所述連通槽側壁固接保護管。

一種用于保密芯片測試的垂直探針卡用防損傷結構，包括彈簧，所述彈簧固接于保護管內壁，所述彈簧一側固接推塊，所述推塊一側滑動連接針桿，所述針桿頂部固接連接線，所述連接線頂部固接于PCB板底部，所述針桿一側滑動連接有滾珠，所述滾珠轉動連接于安裝管一側，所述安裝管固接于保護管內壁，所述針桿底部固接針頭，所述針頭滑動連接保護帽，所述保護帽固接于保護管底部。

本實用新型的有益效果是：