[實用新型]一種測量精準的PIV測量系統的標定裝置

有效

• 申請號: 202020055404.1
• 申請日: 2020-01-10
• 公開（公告）號: CN211292960U
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 李猛剛;任保平;黃巍;王念政
• 申請（專利權）人: 蘇州德威爾卡光電技術有限公司
• 主分類號: G01P21/02
• 分類號: G01P21/02
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 汪任飛

本實用新型公開了一種測量精準的PIV測量系統的標定裝置，屬于PIV測量領域，其技術方案要點是包括底座，底座上固定連接有支撐架，支撐架豎直設置，支撐架的頂端轉動連接有第一齒輪，第一齒輪上設有標定直尺，所述標定直尺朝向第一齒輪一側上設有固定桿，所述固定桿背向標定直尺一端與第一齒輪固定連接，所述第一齒輪處設有第二齒輪，所述第二齒輪與支撐架轉動連接，所述第二齒輪與第一齒輪嚙合，所述第一齒輪的直徑大于第二齒輪的五倍以上，所述支撐架上固設有放置臺，所述放置臺上滑動設置有齒條，所述齒條與第二齒輪嚙合，所述放置臺上沿齒條滑動方向設有刻度線，本實用新型精確調節標定直尺的傾角，使調節可控，片光標定精確。

技術領域

本實用新型涉及PIV測量的技術領域，尤其是涉及一種測量精準的PIV測量系統的標定裝置。

背景技術

PIV，又稱粒子圖像測速法，是七十年代末發展起來的一種瞬態、多點、無接觸式的流體力學測速方法。其基本原理是在流場中散播一些跟蹤性與反光性良好且比重與流體相當的示蹤粒子，用自然光或激光片光源照射所測流場區域，形成光照平面，使用CCD等攝像設備獲取示蹤離子的運動圖像，并記錄相鄰兩幀圖像序列之間的時間間隔，然后對拍攝到的連續兩幅圖像進行相互分析，識別示蹤粒子圖像的位移，從而得到流體的速度場。與其他單點測速技術相比，PIV技術擁有單點測速技術的高精度和高空間分辨率，實現了全流場的非接觸式瞬態測量，目前在涉及流場測量的機械、冶金、化工、汽車、航空、水文和醫學等眾多領域應用廣泛。

典型的PIV系統主要由照明系統、成像系統和圖像處理系統等部分組成，照明系統主要由連續或脈沖激光器、光路系統和片光源光學鏡頭組等構成，成像系統包括數字照相機和信號同步器等，圖像處理系統主要是分析軟件和工作站，分析軟件用于分析成像系統獲取的圖像或視頻，顯示采樣的圖像數據，計算并顯示速度矢量場等，工作站為圖像處理和流場計算提供強大的運算資源。在進行PIV測量前，需要對其進行精準的校正標定，這樣才能使PIV測量更加精確。

公告號為CN110108903A的中國專利公開了一種PIV片光標定裝置，包括底座和支撐架，所述支撐架豎向延伸且所述支撐架的下端與所述底座固定連接或者可樞轉連接；所述支撐架的頂端設有標定直尺，當所述支撐架的下端與所述底座固定連接時，所述標定直尺可樞轉地設置在所述支撐架的上端；當所述支撐架的下端與所述底座可樞轉連接時，所述標定直尺沿著所述支撐架延伸方向固定在所述支撐架上。

上述中的現有技術方案存在以下缺陷：雖然這種能夠進行標定直尺的傾角位置的調節，從而實現片光精確標定,但是在實際使用過程中，標定直尺的調節主要是通過人直接轉動標定直尺以達到調節傾角的效果，對于細小的差距調節不好控制，使片光精確標定的效果不是很理想。

實用新型內容

針對現有技術存在的不足，本實用新型的目的之一是提供一種能夠精確調節標定直尺的傾角，使調節可控，片光標定精確的測量精確的PIV測量系統的標定裝置。

本實用新型的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：

一種測量精準的PIV測量系統的標定裝置，包括底座，所述底座上設有支撐架，所述支撐架豎直設置，所述支撐架的頂端轉動連接有水平設置的第一齒輪，所述第一齒輪頂側上設有標定直尺，所述標定直尺朝向第一齒輪一側上設有固定桿，所述固定桿背向標定直尺一端與第一齒輪固定連接，所述第一齒輪下方設有水平設置的第二齒輪，所述第二齒輪與支撐架轉動連接，所述第二齒輪與第一齒輪嚙合，所述第一齒輪的直徑大于第二齒輪的五倍以上，所述支撐架上固設有放置臺，所述放置臺上滑動設置有齒條，所述齒條與第二齒輪嚙合，所述放置臺上沿齒條滑動方向設有刻度線。