[實用新型]瑕疵檢測載盤

有效

• 申請號: 202020054943.3
• 申請日: 2020-01-10
• 公開（公告）號: CN211602885U
• 公開（公告）日: 2020-09-29
• 發明（設計）人: 余世琮;李彥志
• 申請（專利權）人: 聯策科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/88
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 李林

本實用新型提供一種瑕疵檢測載盤，至少一上料盤與一檢測平臺所構成；前述的上料盤具有一本體與數個容槽所構成，該數個容槽用于安裝至少一物件，該容槽內還設置一貫穿部；該檢測平臺提供該上料盤裝配其上進行檢測；其特征在于：該檢測平臺設有多個定位部，每一個定位部由一定位凹部與一定位凸部所構成；該些定位凸部恰對應該容槽的位置并穿過該貫穿部，將該物件加以定位于該多個定位部的定位凸部，再者，該些定位凸部設有多個吸附孔，該多個吸附孔連接至一抽氣模塊，憑借該抽氣模塊產生負壓進而讓該多個吸附孔吸附該至少一物件，使得該至少一物件貼合在該定位凸部，通過定位凸部預先調整物件位置可提升檢測效率。

技術領域

本實用新型涉及檢測設備，特別是指一種瑕疵檢測載盤。

背景技術

如半導體、晶片、PCB印刷電路板這類型精密產品從生產到包裝出貨幾乎都以自動化設備生產制造。

在品檢的過程中仰賴光學檢測機品檢物品上是否有瑕疵、不良的問題；常見用于承托物件檢測的載盤(Tray盤)結構與其運作方式如圖1、圖2所示，通過機械手臂將物件逐一放置在料盤91，利用機械手臂將料盤91裝滿物件92后，送往一檢測載臺93，前述的檢測載臺93上設置抽氣單元(圖未繪出)，其可將物件92、料盤91緊密的吸附在該檢測載臺93；接著由圖2上端的光學檢測設備94對物件92，物件92可以是半導體、或者晶片、或者PCB印刷電路板進行如外觀、表面等相關檢測作業。

當物件92放置位置有偏移，需要一校準單元95或者一氣壓元件推動物件，使物件92能精準的配置以便于檢測作業進行。

然而，現有檢測設備的缺失在于：

1.當物件92放置在料盤91時，難免有放置不正的情況，必須通過校準單元95或氣壓元件推動使物件平整的，但這樣的操作方式拉長檢測時間，降低效率。

2.檢測載臺93只對物件92抽吸，料盤91在長時間使用下，用于承接物件92的塑膠肋容易變形、物件擺放位置不正確。

3.呈上述，當塑膠肋歪斜后，物件92自然不平整，可能需要以人工或者重新檢測，造成重工、檢測效率差、影響交貨的困擾。

4.而有些實施例則是將物料92通過搬運設備將其放置在檢測載臺93，讓機械大多數的時間都耗費在上料、下料，大幅降低機械的稼動率。

實用新型內容

是以，要如何解決上述現有的問題與缺失，即為相關業者所亟欲研發的課題。

為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案是：

一種瑕疵檢測載盤，包含有：至少一上料盤與一檢測平臺；

前述的上料盤具有一本體與數個容槽，該數個容槽用于安裝至少一物件，該容槽內還設置一貫穿部；

該檢測平臺提供該上料盤裝配其上進行檢測；其特征在于：

該檢測平臺設有多個定位部，每一個定位部由一定位凹部與一定位凸部所構成；該定位凸部對應該容槽的位置并穿過該貫穿部，該定位凸部設有多個吸附孔，該多個吸附孔連接至一抽氣模塊，憑借該抽氣模塊產生負壓進而讓該多個吸附孔吸附該至少一物件，使得該至少一物件貼合在該定位凸部，將該物件加以定位于該多個定位部的定位凸部。

其中，該檢測平臺對應該本體的區域上設置多個吸附孔。

其中，該檢測平臺還包含有一光學檢測模塊，該光學檢測模塊檢測物件的外型、表面等瑕疵檢測。

其中，該定位凹部提供該上料盤的容槽抵靠，該定位凹部尺寸大于容槽，該貫穿部尺寸大于該定位凸部，使得該容槽套設于該定位部。

一種瑕疵檢測載盤，包含有：至少一上料盤與一檢測平臺；

前述的上料盤具有一本體與數個容槽，該數個容槽用于安裝至少一物件；