[發明專利]一種工件的面輪廓度快速測量方法及介質

有效

• 申請號: 202011645298.3
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112595281B
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發明（設計）人: 鐘建華;譚艷軍
• 申請（專利權）人: 域鑫科技（惠州）有限公司
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 黃華蓮;郝傳鑫

1.一種工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

基準及待測面確認：工件上具有平面狀的待測面，所述待測面的基準包括相互垂直的第一基準面和第二基準；所述待測面與第一基準面之間的角度為第一角度，所述第一角度的值為α；所述待測面與所述第二基準之間沿所述第一基準面方向的距離為輪廓度的目標距離；

輔助定位：在水平的測量臺上放置輔助檢具，所述輔助檢具包括互成第二角度的第一檢具面和第二檢具面，所述第一檢具面呈水平狀態，所述第二角度與第一角度互補；將所述工件固定于輔助檢具上，使得所述工件的第一基準面與所述第二檢具面平行，所述第一基準面與所述第二基準的交點處于所述第一檢具面所在的平面，且所述待測面呈水平狀態；

測量推算：獲取間接距離，所述間接距離為所述待測面上多個不同位置處點與所述第一檢具面之間的距離；根據所述間接距離推算得出所述目標距離的推定值，所述目標距離的推定值即為待測面的輪廓度數值。

2.如權利要求1所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，還包括合格判斷步驟，所述合格判斷步驟包括：

若所述目標距離的理想值為a，且待測面的輪廓度公差為±x，則所述間接距離的理論值b＝a×sinα；

當所述間接距離為b±x的范圍內時，即判斷所述待測面的輪廓度合格。

3.如權利要求2所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，所述合格判斷步驟中還包括裝配誤差過濾步驟如下：

當所述間接距離處于b±(x－0.01)的范圍內時，才判斷所述待測面的輪廓度合格。

4.如權利要求1所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，還包括合格判斷步驟，所述合格判斷步驟包括：

所述目標距離的推定值＝所述間接距離/sinα；

若所述目標距離的理想值為a，且待測面的輪廓度公差為±x，則所述目標距離的公差值＝±x/sinα；

當所述目標距離的推定值處于a±x/sinα的范圍內時，即判斷所述待測面的輪廓度合格。

5.如權利要求4所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，所述合格判斷步驟中還包括裝配誤差過濾步驟如下：

當所述目標距離的推定值處于a±(x－0.01)/sinα的范圍內時，才判斷所述待測面的輪廓度合格。

6.如權利要求1至5任一項所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，所述輔助定位步驟中，所述工件的第一基準面貼觸于所述第二檢具面。

7.如權利要求6所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，所述輔助檢具還包括容納孔，所述容納孔開設于所述第二檢具面上，所述容納孔用于容納位于所述工件的第二基準上的凸起。

8.如權利要求7所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，所述測量推算步驟中，所述間接距離為所述待測面上的前、后、左、右四個方向上各兩點與所述第一檢具面之間的距離。

9.如權利要求1所述的工件的面輪廓度快速測量方法，其特征在于，所述間接距離通過三坐標測量儀測量，三坐標測量儀的測針與高度計聯接，測量時所述測針在所述第一檢具面上置零。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質包括存儲的計算機程序；其中所述計算機可讀存儲介質在運行時控制所述計算機可讀存儲介質所在的設備執行權利要求1至9任一項中所述的工件的面輪廓度快速測量方法中的測量推算步驟。